| 同轴衰减器1401 |
外部目检 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 1.2 |
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| 同轴衰减器1401 |
X射线检查 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 1.3 |
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| 同轴衰减器1401 |
制样镜检 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 1.4 |
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| 隔直/检测T形头1402 |
外部目检 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 1.2 |
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| 隔直/检测T形头1402 |
制样镜检 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 1.3 |
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| 同轴、波导检波器1403 |
外部目检 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 1.2 |
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| 同轴、波导检波器1403 |
X射线检查 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 1.3 |
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| 同轴、波导检波器1403 |
内部检查 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 1.4 |
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| 同轴、波导检波器1403 |
扫描电子显微镜检查 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 1.5 |
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| 同轴、波导检波器1403 |
键合强度 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 1.6 |
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