| 同轴、波导检波器1403 |
剪切强度 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 1.7 |
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| 熔丝型管状熔断器1501 |
外部目检 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.2 |
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| 熔丝型管状熔断器1501 |
X射线检查 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.3 |
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| 熔丝型管状熔断器1501 |
密封性检查 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.4 |
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| 熔丝型管状熔断器1501 |
制样镜检 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.5 |
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| 玻璃和陶瓷基片型熔断器1502 |
外部目检 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.2 |
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| 玻璃和陶瓷基片型熔断器1502 |
X射线检查 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.3 |
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| 玻璃和陶瓷基片型熔断器1502 |
制样镜检 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.4 |
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| 带状柔性加热器1601 |
外部目检 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.2 |
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| 带状柔性加热器1601 |
引出端强度 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.3 |
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