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半导体 集成电路外壳中绝缘电阻检测

  • 样品名称:半导体 集成电路外壳

  • 检测项目:绝缘电阻

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法1003

  • 所属行业分类:电子电气 > 电子元件检测 >

  • 标签: 绝缘电阻 半导体 集成电路外壳

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