您当前的位置:首页 > 中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心 > 半导体 集成电路中最高额定工作 温度下的开关试验检测

  • 中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心

  • 江苏省无锡市

咨询电话:400-818-0021

免费发布检测需求

登陆查看更多联系方式

半导体 集成电路中最高额定工作 温度下的开关试验检测

  • 样品名称:半导体 集成电路

  • 检测项目:最高额定工作 温度下的开关试验

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996  微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005  微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006

  • 所属行业分类:

  • 标签: 最高额定工作 温度下的开关试验 半导体 集成电路

半导体 集成电路中最高额定工作 温度下的开关试验更多检测机构