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YY/T 1292.1-2015医疗器械生殖和发育毒性试验 第1部分:筛选试验 YY/T 1292.2-2015医疗器械生殖和发育毒性试验 第2部分:胚胎发育毒性试验 YY/T 1292.3-2016医疗器械生殖和发育毒性试验 第3部分:一代生殖毒性试验 YY/T 1292.4-2017医疗器械生殖和发育毒性试验 第4部分:两代生殖毒性试验 查看详情>>
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检测项:输入失调电压 检测样品:集成运放 电路 标准:可靠性鉴定和验收试验GJB899-2009
检测项:输入失调电压 检测样品:集成运放 电路 标准:半导体器件集成电路;第3部分:模拟集成电路 GB/T17940-2000
检测项:输入钳位电压 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项:骚扰电压 检测样品:电气照明和 类似设备 标准:电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) GB17625.1-2012
检测项:电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度 检测样品:电子电气设备 标准:电磁兼容 试验和测量技术电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验 GB/T 17626.11-2008
检测项:电压变化、电压波动和闪烁 检测样品:电气照明和 类似设备 标准:电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制 GB 17625.2-2007
机构所在地: 更多相关信息>>
检测项:输入电压驻波比 检测样品:800MHz CDMA数字蜂窝移动通信直放站 标准:800MHz CDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法 YD/T 1241-2002
检测项:输入/输出电压驻波比 检测样品:WCDMA直放站 标准:2GHz WCDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法 YD/T 1554-2007
检测项:输入/输出电压驻波比 检测样品:TD-SCDMA 直放站 标准:2GHz TD-SCDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法 YD/T 1711-2007
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电压 检测样品:电压比较器 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996
检测项:输入偏置电流 检测样品:电压比较器 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996
检测项:输入失调电流 检测样品:电压比较器 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:输入短路电压Uo检定 检测样品:脉冲电压表 标准:电子电压表测试方法 GB/T 12116–2012 电子测量仪器通用规范 GB/T 6587–2012
检测项:输入电压范围 检测样品:脉冲信号源 标准:脉冲信号发生器技术条件 GB/T 9317-2012 电子测量仪器通用规范 GB/T 6587–2012
检测项:交流电压 检测样品:失真度测量仪 标准:失真度测量仪通用技术条件和测试方法 GB/T 15472-2012
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电压VIO 检测样品:电压比较器 标准:《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》SJ/T 10805-2000
检测项:输入失调电压VIO 检测样品:运算放大器 标准:《半导休集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理》SJ/T 10738-1996
检测项:输入钳位电压VIK 检测样品:TTL电路 标准:《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电压VIO 检测样品:半导体集成电路电压比较器 标准:GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项:输入低电平电压VIL 检测样品:A/D转换器 标准:QJ3044-98 半导体集成电路数/模转换器和模/数转换器测试方法 SJ 20961-2006 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电压VIO 检测样品:电压比较器 标准:GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》
检测项:输入高电平电流IIH 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》
检测项:输入低电平电流IIL 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:输入低电平 电压 检测样品:运算(电压)放大器 标准:半导体集成电路运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项:输入失调电压 检测样品:运算(电压)放大器 标准:半导体集成电路运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项:输入失调电压 检测样品:电压比较器 标准:半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T6798-1996
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电压VIO 检测样品:电压比较器 标准:GB/T 6798-1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
检测项:最大反向输入直流电压(VR) 检测样品:光电耦合器 标准:GB/T 15651.2-2003《半导体器件分立器件和集成电路 第5-2部分:光电子器件基本额定值和特性》
检测项:输入二级管正向电压VF 检测样品:光电耦合器 标准:GB/T 15651.2-2003《半导体器件分立器件和集成电路 第5-2部分:光电子器件基本额定值和特性》