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直流电治疗设备相关标准: 1、YY 9706.210-2021 医用电气设备 第2-10部分:神经和肌肉刺激器的基本安全和基本性能专用要求 2、YY 0649-2016 电位治疗设备 3、YY/T 0696-2021 神经和肌肉刺激器输出特性的测量 查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年03月22日
检测项:全部参数 检测样品:小功率电流电压变换器 标准:JB/T 10635-2006小功率电流电压变换器通用技术条件
检测项:部分参数 检测样品:交流电测量设备 标准:GB/T 17215.211-2006交流电测量设备 通用要求、试验和试验条件 第11部分:测量设备
检测项:全部参数 检测样品:小功率电流电压变换器 标准:GB/T 14598.303-2011 数字式电动机综合保护装置通用技术条件
机构所在地:河南省许昌市 更多相关信息>>
检测项:阈值(门限电平) 检测样品:逻辑分析仪 标准:GB/T 15471-1995 《逻辑分析仪通用技术条件和测试方法》
检测项:直流电流基本误差 检测样品:模拟直流电流表 标准:GB/T 7676.9-1998 直接作用模拟指示电测量仪表及其附件 第9部分 推荐的试验方法
检测项:交流电流基本误差 检测样品:模拟交流电流表 标准:GB/T 7676.9-1998 直接作用模拟指示电测量仪表及其附件 第9部分 推荐的试验方法
机构所在地:四川省绵阳市 更多相关信息>>
检测项:直流电流电压输出误差 检测样品:低压直流电源设备 标准:《电力工程直流电源设备通用技术条件及安全要求》GB/T19826-2005
检测项:稳压精度 检测样品:低压直流电源设备 标准:《电力工程直流电源设备通用技术条件及安全要求》GB/T19826-2005
检测项:稳流精度 检测样品:低压直流电源设备 标准:《电力工程直流电源设备通用技术条件及安全要求》GB/T19826-2005
机构所在地: 更多相关信息>>
检测项:保护接地装置 检测样品:灯控制装置 (不测三相电) 标准:灯控制装置.第1部分:一般要求和安全要求 EN 61347-1:2008+A1:2011+A2:2013 IEC 61347-1:2012 GB 19510.1-2009 AS/NZS 61347.1:2002
检测项:电路总功率 检测样品:LED照明模块 标准:发光二极管模块的直流或交流电源电子控制装置.性能要求 EN 62384:2006+A1:2009 IEC 62384:2011
检测项:电路功率因素 检测样品:LED照明模块 标准:发光二极管模块的直流或交流电源电子控制装置.性能要求 EN 62384:2006+A1:2009 IEC 62384:2011
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:*全部项目 检测样品:电流互感器 标准:高压直流输电系统直流电流测量装置 第2部分:电磁式直流电流测量装置 GB/T 26216.2-2010
检测项:*全部项目 检测样品:电压互感器 标准:GB/T 26216.2-2010 高压直流输电系统直流电流测量装置 第2部分:电磁式直流电流测量装置
检测项:*全部项目 检测样品:电压互感器 标准:GB/T 26216.1-2010 高压直流输电系统直流电流测量装置 第1部分:电子式直流电流测量装置
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:输入电流II 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输入高电平电流IIH 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输入低电平电流IIL 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:复位电流 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992
检测项:触发电流 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992
检测项:输出短路电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998
检测项:输入电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输入高电平电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输入低电平电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流IOS 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:电源电流ICC 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项:输入电流 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:输入高电平电流 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996