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检测项：氨基酸态氮 检测样品：酱油 标准：酱油卫生标准的分析方法 GB/T 5009.39-2003
检测项：氨基酸态氮 检测样品：酱 标准：酱卫生标准的分析方法 GB/T 5009.40-2003 4.1
机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项：氨基酸态氮 检测样品：酱油 标准：酿造酱油 GB 18186-2000 6.4
检测项：硫醇硫 检测样品：石油产品 标准：汽油、煤油、航空汽轮机燃料及馏出燃料中(硫醇态)硫含量的试验方法(电位法) ASTM D3227-13
机构所在地：辽宁省大连市 更多相关信息>>
检测项：通态电阻 检测样品：功率金属氧化物场效应管 标准：半导体测试方法测试标准 GJB128A-1997 方法3407
检测项：通态电阻 检测样品：功率金属氧化物场效应管 标准：半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750E 2006 方法3405.1
机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项：导通态漏电流 IDS（on ） 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T 14030-1992 《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》
检测项：截止态漏级漏电流 ID（off） 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T 14030-1992 《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》
检测项：截止态源级漏电流 IS（off） 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T 14030-1992 《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：导通态漏电流IDS 检测样品：V/F、F/V转换器 标准：《半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器》 GB/T 14114-1993
检测项：静态漏-源通态电阻rDS 检测样品：晶体振荡器 标准：《晶体振荡器总规范》GJB 1648-1993
检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：TTL电路 标准：《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996
机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项：导通态漏电流IDS(on) 检测样品：脉宽调制器 标准：半导体集成电路开关电源脉宽调制器测试方法 QJ2660-1994
检测项：截止态漏极漏电流ID(off) 检测样品：脉宽调制器 标准：半导体集成电路开关电源脉宽调制器测试方法 QJ2660-1994
检测项：截止态源极漏电流IS(off) 检测样品：脉宽调制器 标准：半导体集成电路开关电源脉宽调制器测试方法 QJ2660-1994
检测项：通态峰值电压VTM 检测样品：闸流晶体管 标准：GB/T 15291-1994 半导体器件 第6部分：晶闸管
检测项：漏-源通态电阻RDSon 检测样品：场效应晶体管 标准：1、GB/T 4586-1994 半导体器件第8部分：场效应晶体管 2、GB/T 20516-2006 半导体器件 分立器件 第4部分：微波器件
机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>
检测项：静态漏-源通态电阻RDS(on) 检测样品：半导体集成电路时基电路 标准：GB/T14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测项：导通态漏电流 IDS（on） 检测样品：电压基准 标准：SJ50597/57-2003 半导体集成电路JW584 /JW584A可编程电压基准详细规范 SJ50597/54-2002 半导体集成电路JW431精密可调电压基准源详细规范
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
检测项：漏源通态电流 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分晶闸管 GB/T 15291-1994
检测项：漏源通态电阻 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分晶闸管 GB/T 15291-1994
检测项：导通态漏电流 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>
检测项：漏-源通态电流 检测样品：晶闸管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3407
检测项：漏-源通态电阻 检测样品：晶闸管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3407
检测项：漏-源通态电压 检测样品：晶闸管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3407
机构所在地：重庆市 更多相关信息>>
