输出高电平电压和输出低电平电压检测实验

生殖和发育毒性

简介

YY/T 1292.1-2015医疗器械生殖和发育毒性试验第1部分：筛选试验 YY/T 1292.2-2015医疗器械生殖和发育毒性试验第2部分：胚胎发育毒性试验 YY/T 1292.3-2016医疗器械生殖和发育毒性试验第3部分：一代生殖毒性试验 YY/T 1292.4-2017医疗器械生殖和发育毒性试验第4部分：两代生殖毒性试验查看详情>>

生殖和发育毒性

简介

YY/T 1292.1-2015医疗器械生殖和发育毒性试验第1部分：筛选试验
YY/T 1292.2-2015医疗器械生殖和发育毒性试验第2部分：胚胎发育毒性试验
YY/T 1292.3-2016医疗器械生殖和发育毒性试验第3部分：一代生殖毒性试验
YY/T 1292.4-2017医疗器械生殖和发育毒性试验第4部分：两代生殖毒性试验

检测项目

收起百科↑ 最近更新：2022年04月19日

搜索条件所在地区: 所属类别:

中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：半导体集成电路CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

机构所在地：河南省郑州市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
湖南航天管理局计量检测中心

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：半导体集成电路CMOS电路标准：SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：半导体集成电路CMOS电路标准：SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

机构所在地：湖南省长沙市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：输出高电平电压检测样品：数字集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路

检测项：输出高电平电压检测样品：数字集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路

检测项：输出逻辑电压电平检测样品：电磁继电器标准：GJB 1042A-2002 电磁继电器通用规范

机构所在地：上海市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：输出高电平电压（VOH）检测样品：半导体集成电路数字集成电路标准：半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

检测项：输出低电平电压（VOL）检测样品：半导体集成电路数字集成电路标准：半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

检测项：输出峰峰电压(VO+,VO-) 检测样品：半导体集成电路电压调整器标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996

机构所在地：陕西省西安市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
云南昆船电子设备有限公司蓝海综合实验中心

检测项：输出高电平电压检测样品：电子产品、军用装备标准：GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验 Fc：振动（正弦）

检测项：输出低电平电压检测样品：电子产品、军用装备标准：GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验 Fc：振动（正弦）

检测项：输出高阻态时高电平电流检测样品：电子产品、军用装备标准：GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验 Fc：振动（正弦）

机构所在地：云南省昆明市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
中国电子科技集团公司第四十七研究所电子器件质量检测实验室

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：TTL 电路测试标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：TTL 电路测试标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996 （GB 3439-1982）

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：CMOS 电路测试标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

机构所在地：辽宁省沈阳市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
上海无线电设备研究所环境与检测实验室

检测项：输出高电平电压检测样品：TTL电路、COMS电路标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996 《半导体集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇第

检测项：输出峰峰电压检测样品：模拟集成电路标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996

检测项：电压调整率检测样品：晶体三极管标准：《半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管》 GB/T 4587-1994

机构所在地：上海市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：输出高阻态时低电平电流检测样品：运算 (电压)放大器标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996第2.1、2.3、2.5、2.6、2.7、2.8、2.11条

检测项：输出高电平电压检测样品：时基电路标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理GB/T14030-1992 第2.1、2.2、2.3、2.4、2.6、2.7、2.8条

检测项：输出高电平电压检测样品：时基电路标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理GB/T14030-1992 第2.1、2.2、2.3、2.4、2.6、2.7、2.8条

机构所在地：四川省成都市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
北京东方计量测试研究所

检测项：负载输出电压和输出电流检测样品：电子变压器、电源装置和类似产品标准：GB 19212.1-2008 电力变压器、电源装置和类似产品的安全第1部分：通用要求和试验

检测项：负载输出电压和输出电流检测样品：电子变压器、电源装置和类似产品标准：GB 19212.1-2008 电力变压器、电源装置和类似产品的安全第1部分：通用要求和试验

检测项：负载输出电压和输出电流检测样品：滑线变阻器标准：JB/T 6319-1992 电阻器基本技术要求 JY 0028-1999 滑动变阻器

机构所在地：北京市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
中国质量认证中心华东实验室

检测项：RF输出端有用信号和骚扰信号电压检测样品：标准：

检测项：机械强度检测样品：单路输出式交流-直流和交流-交流外部电源标准：单路输出式交流-直流和交流-交流外部电源能效限定值及节能评价值 GB 20943-2013

检测项：发热要求检测样品：单路输出式交流-直流和交流-交流外部电源标准：单路输出式交流-直流和交流-交流外部电源能效限定值及节能评价值 GB 20943-2013

机构所在地：上海市更多相关信息>>

我要咨询联系我们

生殖和发育毒性

简介

生殖和发育毒性

简介

检测项目

中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

湖南航天管理局计量检测中心

中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

云南昆船电子设备有限公司蓝海综合实验中心

中国电子科技集团公司第四十七研究所电子器件质量检测实验室

上海无线电设备研究所环境与检测实验室

中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

北京东方计量测试研究所

中国质量认证中心华东实验室

热点资讯MORE>

最新资讯MORE>

客户服务