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检测项:DC/DC变换器输出电压Vo 检测样品:DC/DC变换器 标准:SJ 20646-1997《混合集成电路DC/DC变换器测试方法》
检测项:DC/DC变换器输出纹波电压Vrip 检测样品:晶体谐振器 标准:SJ2052-1982 《30兆赫以下石英谐振器频率和等效电路参数的测量方法》
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:模拟集成电路 标准:GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理》
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:输出电压VO 检测样品:DC/DC变换器 标准:SJ 20646-1997《混合集成电路DC/DC变换器测试方法》
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》
检测项:输出高电平阈值电压VOHT 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:输出电压VO 检测样品:DC/DC转换器 标准:SJ 20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法
检测项:基准输出电压VRO 检测样品:晶体三极管 标准:GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
检测项:输出电压 检测样品:旋转变压器 标准:GJB929A-1998 旋转变压器通用规范
机构所在地:河南省洛阳市 更多相关信息>>
检测项:输出电压VO 检测样品:DC/DC模块 标准:SJ20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法
检测项:输出电压VO 检测样品:三端稳压电源(电压调整器) 标准:GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
机构所在地:湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项:正输出电压摆幅VO+ 检测样品:半导体集成电路 (运算放大器、电压比较器) 标准:1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 16464-1996 半导体器件 集成电路 第1部分 总则
检测项:负输出电压摆幅VO- 检测样品:半导体集成电路 (运算放大器、电压比较器) 标准:1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 16464-1996 半导体器件 集成电路 第1部分 总则
检测项:输出电压摆幅Vo 检测样品:半导体集成电路 (运算放大器、电压比较器) 标准:1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 16464-1996 半导体器件 集成电路 第1部分 总则
机构所在地:河北省石家庄市 更多相关信息>>
检测项:输出电压VO 检测样品:半导体集成电路(稳压器) 标准:1.GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范
检测项:输出高电平VO H 检测样品:半导体集成电路(数字集成电路) 标准:1.SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第IV篇 3.GB/T 16464-1996半导体器件 集成电路 第
检测项:输出高电平电压Voh 检测样品:半导体集成电路(稳压器) 标准:1.GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范
检测项:输出电压 检测样品:三端稳压电源(电压调整器) 标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
检测项:输出高电平电压 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输出低电平电压 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:差分放大器的电压Vo 检测样品:电压比较器 标准:GB/T 6798-1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:电压比较器 标准:GB/T 6798-1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:电压比较器 标准:GB/T 6798-1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
检测项:功能及部分电参数测试 检测样品:集成电路: (TTL、CMOS、A/D、D/A、存储器、接口、运放、比较器、集成稳压器、电压基准等) 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005中4.5节及产品手册要求
检测项:电功率老化 检测样品:集成电路: (TTL、CMOS、A/D、D/A、存储器、接口、运放、比较器、集成稳压器、电压基准等) 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548A-96中方法1015A
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:标称电压VO 检测样品:DC-DC电源变换器 标准:《遥测系统及分系统测试方法 DC-DC电源变换器性能参数和测试方法》GJB 383.10-1988
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:电压比较器 标准:《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》SJ/T 10805-2000
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:电压比较器 标准:《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》SJ/T 10805-2000
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>