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检测项:输入偏置电流 检测样品:半导体集成电路电压比较器 标准:GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项:输入偏置电流 检测样品:晶体三极管 标准:GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
检测项:输入偏置电流 检测样品:半导体集成电路电压比较器 标准:GB/T6798-1996 《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》
机构所在地:江苏省连云港市
检测项:输入电流 检测样品:TTL集成电路 标准:《半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路》GB/T17574-1998
检测项:输入高电平电流 检测样品:TTL集成电路 标准:《半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路》GB/T17574-1998
机构所在地:江苏省扬州市
检测项:输入偏置电流 检测样品:时基 电路 标准:半导体集成电路 时基电路 测试方法的基本原理GB/T14030-1992 第2.1、2.2、2.3、2.4、2.6、2.7、2.8条
机构所在地:四川省成都市