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植入式循环辅助设备产品描述:通常由植入式泵体、电源部分、血管连接和控制器组成。 植入式循环辅助设备预期用途:用于心室循环功能的辅助,代替心脏实现泵血。 植入式循环辅助设备品名举例:植入式左心室辅助装置、植入式右心室辅助装置 植入式循环辅助设备管理类别:III 植入式循环辅助设备相关指导原则: 1、植入式左心室辅助系统注册技术审查指导...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年03月30日
检测项:电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度 检测样品:CDMA移动终端及辅助设备(EMC) 标准:GB 19484.1-2004《800MHz CDMA数字蜂窝移动通信系统电磁兼容性要求和测量方法第1部分:移动台及其辅助设备》
检测项:电压波动和闪烁 检测样品:CDMA移动终端及辅助设备(EMC) 标准:GB 19484.1-2004《800MHz CDMA数字蜂窝移动通信系统电磁兼容性要求和测量方法第1部分:移动台及其辅助设备》
检测项:电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度 检测样品:GSM移动终端及辅助设备(EMC) 标准:YD 1032-2000 《900/1800MHz TDMA 数字蜂窝移动通信系统电磁兼容性限值和测量方法 第1部分:移动台及其辅助设备》 GB/T 22450.1-2008 《900/1800MHz TDMA 数字蜂窝移动通信系统电磁兼容性限值和测量方法
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:电压变化、电压暂降和短时中断抗扰度 检测样品:移动用户终端及辅助设备 标准:YD/T 1592.1:2007 TD-SCDMA 数字蜂窝移动通信系统电磁兼容性要求和测量方法 第1部分:用户设备及其辅助设备
检测项:电压变化、电压暂降和短时中断抗扰度 检测样品:移动用户终端及辅助设备 标准:IEC 61000-4-11-2004《电磁兼容 试验和测量技术电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度试验》
检测项:电压变化、电压暂降和短时中断抗扰度 检测样品:移动用户终端及辅助设备 标准:EN 61000-4-11-2004《电磁兼容 试验和测量技术电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度试验》
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:电压跌落、中断,电压变化抗扰度测试 检测样品:移动台及其辅助设备 标准:800MHzCDMA 数字蜂窝移动通信系统 电磁兼容性要求和测量方法 第1部分:移动台及其辅助设备 GB19484.1-2004
检测项:电压跌落、中断,电压变化抗扰度测试 检测样品:移动台及其辅助设备 标准:900/1800MHz TDMA 数字蜂窝移动通信系统电磁兼容性限值和测量方法 第1部分:移动台及其辅助设备 YD1032-2000; GBT 22450.1-2008
检测项:电压跌落、中断,电压变化抗扰度测试 检测样品:2GHz 数字蜂窝移动通信系统:用户设备及其辅助设备 标准:2GHz WCDMA数字蜂窝移动通信系统电磁兼容性要求和测量方法 第1部分:用户设备及其辅助设备 YD/T1595.1-2012 2GHz cdma2000 数字蜂窝移动通信系统电磁兼容性要求和测量方法 第1部分:用户设备及其辅助设备 YD/T1597.
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:电压比较器 标准:《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》SJ/T 10805-2000
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:电压比较器 标准:《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》SJ/T 10805-2000
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:运算放大器 标准:《半导休集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理》SJ/T 10738-1996
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:输出峰-峰值电压VOPP 检测样品:三端稳压电源(电压调整器) 标准:GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
检测项:输出电压VO 检测样品:三端稳压电源(电压调整器) 标准:GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》
检测项:输出高电平阈值电压VOHT 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平 电压 检测样品:运算(电压)放大器 标准:半导体集成电路运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项:输出低电平 电压 检测样品:运算(电压)放大器 标准:半导体集成电路运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项:输出高电平 电流 检测样品:运算(电压)放大器 标准:半导体集成电路运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项:最高输出电压 检测样品:绝缘油介电强度测试仪 标准:《高电压测试设备通用技术条件第7部分:绝缘油介电强度测试仪》 DL/T846.7-2004
检测项:输出电压的纹波试验 检测样品:高压谐振试验装置 标准:《电力设备专用测试仪器通用技术条件第6部分:高压谐振试验装置》 DL/T849.6-2004
检测项:辅助接地电阻引起的改变改变量 检测样品:工频接地电阻测试仪 标准:《电阻测量装置通用技术条件第2部分:工频接地电阻测试》 DL/T845.2-2004
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:电压比较器 标准:GB/T 6798-1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:电压比较器 标准:GB/T 6798-1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
检测项:高电平输出电流IOH 检测样品:电压比较器 标准:GB/T 6798-1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
检测项:输出电压 检测样品:电压比较器 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996
检测项:输出电流 检测样品:电压比较器 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996
检测项:饱和电压 检测样品:电容器 标准:半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法SJ2215.8-1982
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>