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结晶点(Crystalpoint) 结晶点 指液体在冷却过程中，由液态转变为固态的相变温度。 结晶点 测试方法： 双套管法 结晶点 测试仪器：结晶点测定仪 查看详情>>
结晶点(Crystalpoint)
结晶点指液体在冷却过程中，由液态转变为固态的相变温度。
结晶点测试方法：双套管法
结晶点测试仪器：结晶点测定仪
收起百科↑ 最近更新：2016年11月20日
检测项：输入钳位电压VIK 检测样品：数字集成电路 标准：SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
检测项：显微组织 检测样品：金属及金属制品 标准：GB/T 5168-2008《α-β钛合金高低倍组织检验方法》
检测项：低倍组织 检测样品：金属及金属制品 标准：GB/T 13298-1991《金属显微组织检验方法》
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：输入钳位电压VIK 检测样品：TTL电路 标准：《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996
检测项：零点误差EZ 检测样品：时基电路 标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992 《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996
检测项：电阻比 检测样品：电阻网络 标准：《膜固定电阻网络、膜固定电阻和陶瓷电容的阻容网络的通用规范》GJB 920A-2002
机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项：直流电压工作误差 检测样品：数字多用表 标准：数字多用表通用技术条件 GB/T 13978—2008
检测项：交流电压电压频率积V.Hz 检测样品：数字多用表 标准：数字多用表通用技术条件 GB/T 13978—2008
检测项：部分项目 检测样品：电熨斗 标准：家用和类似用途电器的安全 第2部分 电熨斗的特殊要求 GB 4706.2—2007
检测项：形位公差-表面粗糙度 检测样品： 标准：产品几何技术规范 产品结构 轮廓法评定表面结构的规则和方法 GB/T 10610-2009
检测项：形位公差-直线度 检测样品：光滑工件 标准：直线度误差测量 GB/T 11336-2004
检测项：形位公差-同轴度 检测样品：光滑工件 标准：同轴度误差测量 JB/T 7557-1994
机构所在地：安徽省黄山市 更多相关信息>>
检测项：粘合力测定 检测样品：鞋类产品及其相关材料 标准：鞋底与面料结合位的剥离强度 SATRA TM411:1992
检测项：绳索和链的周长 检测样品：食品接触材料 标准：与食品接触的陶瓷容器中溶出铅、镉含量的分析方法 Directive2005/31/EC
检测项：绳索、链和电线的长度 检测样品：食品接触材料 标准：与食品接触的陶瓷容器中溶出铅、镉含量的分析方法 Directive2005/31/EC
机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>
检测项：镜片要求 检测样品：机动车驾驶员专用眼镜 标准：机动车驾驶员专用眼镜QB2659-2004
检测项：电压变化、电压波动和闪烁 检测样品：低压电气设备及电子设备 标准：电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16 A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制 GB 17625.2-2007 IEC 61000-3-3:2013 EN 61000-3-3:2008
检测项：射频场感应的传导骚扰抗扰度 检测样品：测量、控制和实验室用的电设备 标准：测量、控制和实验室用的电设备 电磁兼容性要求 GB/T 18268.1-2010 IEC 61326-1:2012 EN 61326-1:2006
检测项：11.位置度误差 检测样品： 标准：光滑几何技术规范（GPS）光滑工件尺寸的检验 GB／T3177-2009
检测项：信号线瞬态 干扰 检测样品：汽车电子电器部件 标准：道路车辆 传导和耦合引起的电干扰 第三部分：经由电源线以外线路的电容耦合和感应耦合产生的电气瞬态发射 ISO7637-3:2007（E）
检测项：静电放电 检测样品：汽车电子电器部件 标准：道路车辆 静电放电产生的电骚扰 试验方法 GB/T 19951－2005 ISO 10605:2008
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
检测项：输入钳位电压 检测样品：TTL电路 标准：SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项：正向阈值电压下的输入电流 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
检测项：负向阈值电压下的输入电流 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项：输入钳位电压 检测样品：TTL集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路 测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996
检测项：电瞬态发射 检测样品：机动车电子电器组件 标准：道路车辆-由传导和耦合引起的电骚扰 第3部分:除电源线外的导线通过容性和感性耦合的电瞬态发射 GB/T 21437.3-2012
检测项：电瞬态发射 检测样品：机动车电子电器组件 标准：道路车辆-由传导和耦合引起的电骚扰 第3部分:除电源线外的导线通过容性和感性耦合的电瞬态发射 ISO 7637-3:2007
机构所在地：重庆市 更多相关信息>>
检测项：输入钳位电压 检测样品：数字集成 电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项：输入失调电流 检测样品：数字集成 电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项：输入偏置电流 检测样品：数字集成 电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
机构所在地：甘肃省兰州市 更多相关信息>>
