中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：输入高电平电流 检测样品：TTL 集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的 基本原理 SJ/T10735－1996 第2.1、2.2、2.5、2.11、2.12、2.13、2.21、2.23、2.24、2.25、2.26、2.27条

检测项：输入低电平电流 检测样品：CMOS 集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的 基本原理 SJ/T10741－2000 第5.1、5.2、5.3、5.7、5.8、5.9、5.10、5.11、5.12、5.13、5.14、5.15、5.16条

检测项：输入高电平电压 检测样品：CMOS 集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的 基本原理 SJ/T10741－2000 第5.1、5.2、5.3、5.7、5.8、5.9、5.10、5.11、5.12、5.13、5.14、5.15、5.16条

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

上海新蓦尔通信技术有限公司摩尔实验室

检测项：有用接收机输入电平范围 检测样品：数字蜂窝移动通信网设备：移动台 标准：数字蜂窝通信系统（阶段 2+）；移动台(MS)一致性规范；第四部分：用户识别模块(SIM) 应用工具包一致性测试规范 3GPP TS 51.010-4 V4.26.0 (2013-07) ETSI EN 300 607-4 V5.1.1 (2000-0

检测项：50dB带宽峰值电平 检测样品：9kHz-40GHz 电子与电气产品 标准：9kHz至40kHz范围内低压电气设备和电子设备发射的无线电噪声测量方法 ANSI C63.4-2009

检测项：辐射骚扰 检测样品：数字蜂窝移动通信网设备：移动台 标准：用户终端/移动台OTA及天线性能测试一致性测试 3GPP TS 34.114 V11.3.0 (2012-12) 北美CTIA Mobile Station OTA 性能测试计划 Rev. 3.1 移动台空间射频辐射功率和接收机性能测量 YD 1484-2

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

香港科技园公司无线通讯测试中心

检测项：有用接收机输入电平范围 检测样品：GSM 移动台 标准：不测振动条件下的射频参数 不测以下测试項： 12.2.1，12.2.2， 14.1.2.1, 14.1.2.2, 14.4.3, 14.6.2, 16.1, 18.1, 21.1, 21.2, 21.3.1, 21.3.2, 21.4.1, 22.1,

检测项：最大输入功率 检测样品：WCDMA 移动台 标准：只测 Band I, II, III, V and VI WCDMA 终端 不测振动条件下的射频参数 不测辐射条件下的射频测试 不测测试項5.13.2, 7.6.3, 7.7.3, 7.11, 及 7.12

检测项：HS-PDSCH Reception 最大输入功率(16QAM) 检测样品：WCDMA 移动台 标准：只测 Band I, II, III, V and VI WCDMA 终端 不测振动条件下的射频参数 不测辐射条件下的射频测试 不测测试項5.13.2, 7.6.3, 7.7.3, 7.11, 及 7.12

机构所在地： 更多相关信息>>

公安部第三研究所安全防范与信息安全产品及系统检验实验室

检测项：部分项目* 检测样品：监视器 标准：《彩色监视器通用技术条件》 SJ/T 10603-1994(2009) 《彩色监视器测量方法》 SJ/T 10604-1994(2009)

检测项：部分项目* 检测样品：电视视频通道 标准：《电视视频通道测试方法》 GB 3659-1983

检测项：部分项目* 检测样品：光端机 标准：《2048kbit/s、…139264kbit/s光端机技术要求》 GB/T 13997-1999 《光端机技术指标测试方法》 YD/T 730－94

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：输入高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输入高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：极限高电平输入电流 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

广州海关化验中心

检测项：初级形状线性低密度聚乙烯的鉴别 检测样品：初级形状线性低密度聚乙烯 标准：初级形状线性低密度聚乙烯的鉴别方法 HS/T 10-2006

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

中捷通信有限公司检测校准中心

检测项：自动电平控制（ALC） 检测样品： 标准：

检测项：输入/输出电压驻波比 检测样品： 标准：

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

中国工程物理研究院计量测试中心

检测项：阈值（门限电平） 检测样品：逻辑分析仪 标准：GB/T 15471-1995 《逻辑分析仪通用技术条件和测试方法》

检测项：非线性 检测样品：电子台案秤 标准：GB/T 7722-2005 《电子台案秤》

检测项：直流电压功能线性度 检测样品：数字多用表 校准仪 标准：GＢ/T 15637-1995 数字多用表校准仪通用技术条件

机构所在地：四川省绵阳市 更多相关信息>>

嘉善云瑞检测服务有限公司

检测项：线性尺寸 检测样品：缓冲材料 标准：

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吉林省医疗器械检验所

检测项：线性 检测样品： 标准：

检测项：线性 检测样品：全自动凝血分析仪 标准：YY/T0659-2008《全自动凝血分析仪》

检测项：线性 检测样品：全自动凝血分析仪 标准：YY/T0659-2008《全自动凝血分析仪》

机构所在地：吉林省长春市 更多相关信息>>