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直流电治疗设备相关标准： 1、YY 9706.210-2021 医用电气设备 第2-10部分：神经和肌肉刺激器的基本安全和基本性能专用要求 2、YY 0649-2016 电位治疗设备 3、YY/T 0696-2021 神经和肌肉刺激器输出特性的测量 查看详情>>
收起百科↑ 最近更新：2023年03月22日
检测项：热效率 检测样品：单路输出式交流-直流和交流-交流外部电源 标准：单路输出式交流—直流和交流—交流外部电源节能产品认证技术要求 CSC/T 30-2005
检测项：平均效率 检测样品：单路输出式交流-直流和交流-交流外部电源 标准：单路输出式交流—直流和交流—交流外部电源节能产品认证技术要求 CSC/T 30-2005
机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项：CRD 4.16 电池过流保护要求 检测样品：便携式计算机用蓄电池 标准：便携式计算机用蓄电池标准 IEEE1625:2008 及电池系统符合IEEE1625的证书要求 CRD Revision 1.9（2013-08）
检测项：CRD 4.16过流保护装置（如果在电池中） 检测样品：便携式计算机用蓄电池 标准：便携式计算机用蓄电池标准 IEEE1625:2008 及电池系统符合IEEE1625的证书要求 CRD Revision 1.9（2013-08）
检测项：CRD5.11输出电流限制（外部短路考察） 检测样品：手机用锂电池 标准：蜂窝电话用可充电电池的IEEE标准 IEEE1725:2011 CTIA关于电池系统符合IEEE1725的认证要求 Rev.2.6 08, 2013
检测项：输出短路电流 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项：输出短路电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项：输出短路电流 检测样品：TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996
检测项：绕组直流电阻 检测样品：固定电感器 标准：电子和通信设备用表变压器和电感器测量方法及试验程序 GB/T 8554-1998
机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项：输出短路电流IOS 检测样品：TTL电路 标准：《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996
检测项：极限短路电流（基准部分）IOS 检测样品：脉宽调制器 标准：《半导体集成电路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脉宽调制器详细规范》SJ 20294-1993
检测项：输出低电平（输出部分）VOL 检测样品：脉宽调制器 标准：《半导体集成电路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脉宽调制器详细规范》SJ 20294-1993
机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项：输出短路电流IOS 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项：输出短路电流IOS 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
检测项：短路正向跨导gfs 检测样品：半导体集成电路时基电路 标准：GB/T14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
检测项：输出短路电流IOS 检测样品：ECL电路 标准：SJ/T10737-1996《半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理》
检测项：输出短路电流IOS 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：SJ/T10741-2000《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
检测项：短路保护试验 检测样品：滤波器 标准：GB7343-1987《10kHz～30MHz无源无线电干扰滤波器和抑制元件抑制特性的测量方法》
检测项：输出短路电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项：输出高电平电压 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项：输出低电平电压 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>
检测项：输出短路电流 检测样品：电子元器件 标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3005.1
检测项：输出短路电流 检测样品：电子元器件 标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3011.1
检测项：输出短路电流 检测样品：电子元器件 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.16条
机构所在地：江苏省无锡市 更多相关信息>>
检测项：输出短路电流Ios 检测样品：半导体集成 电路 (CMOS) 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
检测项：输出短路电流Ios 检测样品：半导体集成 电路 (TTL) 标准：半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：半导体集成 电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
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