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电子射野成像系统产品描述:通常由正对于治疗射线束的射线探测单元、相关软件等组成。 电子射野成像系统预期用途:配合外照射设备,通过采集射野图像,主要用于患者在放射治疗中的引导和位置验证。 电子射野成像系统品名举例:电子射野成像装置、实时影像动态验证系统 电子射野成像系统管理类别:Ⅲ 电子射野成像系统相关指导原则: 1、用于放射治疗...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年03月02日
检测项:齿向误差 检测样品:机械零件 标准:产品几何技术规范(GPS) 光滑工件尺寸的检验 GB/T3177-2009
检测项:齿距误差 检测样品:机械零件 标准:产品几何技术规范(GPS) 光滑工件尺寸的检验 GB/T3177-2009
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:主轴动态误差 检测样品:金属切削机床 标准:机床检验通则 第7部分:旋转轴的几何精度 ISO 230-7-2006
检测项:剩余不平衡量 检测样品:金属切削机床 标准:机械振动 恒态(刚性)转子平衡品质要求 第一部分:规范与平衡允差的检验 GB/T 9239.1-2006
检测项:两轴联动轨迹精度 检测样品:金属切削机床 标准:机床试验规范 第4部分:数控机床的循环试验 ISO 230-4-2005
机构所在地: 更多相关信息>>
检测项:表面 粗糙度 检测样品: 标准:产品几何量技术规范(GPS) 评定圆度误差的方法 半径变化量测量 GB/T 7235-2004
检测项:表面 粗糙度 检测样品:机械零部件 标准:产品几何量技术规范(GPS) 评定圆度误差的方法 半径变化量测量 GB/T 7235-2004
检测项:表面 形状 位置 检测样品:机械零部件 标准:产品几何量技术规范(GPS)形状和位置公差检测规定 GB/T 1958-2004
机构所在地:福建省厦门市 更多相关信息>>
检测项:线性误差EL 检测样品:晶体三极管 标准:GB/T14029-1992 《半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理》
检测项:馈通误差EF 检测样品:晶体三极管 标准:GB/T4587-1994 《半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管》
检测项:射线实时成像 检测样品:机械零部件 标准:GJB 5364-2005《射线实时成像检测方法》
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:增益误差EG 检测样品:A/D、D/A转换器 标准:半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理 SJ/T10818-1996
检测项:线性误差EL 检测样品:A/D、D/A转换器 标准:半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理 SJ/T10818-1996
检测项:零点误差Ez 检测样品:低频电连接器 标准:低频电连接器复验技术条件 Q/QJB 156-2008
检测项:全项目 检测样品:窗框用热轧型钢 标准:热轧型钢的尺寸、质量及其允许误差 JIS G 3192-2010
检测项:射线检测 检测样品:无损检测 标准:焊缝的无损检测 超声波测试 焊缝现实的特性描述 BS EN ISO 23279:2010
检测项:射线检测 检测样品:无损检测 标准:焊缝的无损检测 超声波测试 检测级别及评定 BS EN ISO 17640:2010
检测项:增益误差EG 检测样品:半导体集成电路采样/保持放大器 标准:GB/T14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
检测项:原点误差E0 检测样品:D/A转换器 标准:SJ2480-1984 混合集成电路数字-模拟、模拟-数字转换器静态测试方法的基本原理
检测项:增益误差EG 检测样品:D/A转换器 标准:SJ2480-1984 混合集成电路数字-模拟、模拟-数字转换器静态测试方法的基本原理
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:电阻值误差的测量 检测样品:滑线变阻器 标准:JB/T 6319-1992 电阻器基本技术要求 JY 0028-1999 滑动变阻器
检测项:圆滞后误差 检测样品:V形块(架) 标准:机床检验通则 第4部分:数控机床的圆检验 GB/T 17421.4-2003
检测项:V形块两侧面间的相互垂直度 检测样品:机械零件 标准:产品几何量技术规范(GPS)形状和位置公差检测规定 GB/T 1958 - 2004 直线度误差检测 GB 11336 - 2004
检测项:对称度误差 检测样品: 标准:
机构所在地:河南省郑州市 更多相关信息>>
检测项:圆度 检测样品:轴承球 标准:几何量技术规范(GPS) 评定圆度误差的方法 半径变化量测量 GB/T 7235-2004
检测项:金相检验 检测样品:金属材料 标准:黄金制品的扫描电镜X射线能谱分析方法 GB/T 17362-2008