中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：插入损耗 检测样品：电磁继电器 标准：GJB65B-1999有可靠性指标的电磁继电器总规范

检测项：增量衰减 检测样品：电磁继电器 标准：GJB65B-1999有可靠性指标的电磁继电器总规范

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第四十研究所质量监督检验中心

检测项：插入损耗稳定性 检测样品：射频连接器 射频电缆组件 标准：GB/T15866-1995射频电缆组件第2-1部分：柔软同轴电缆组件分规范9.7

检测项：插入损耗稳定性 检测样品：射频连接器 射频电缆组件 标准：GB/T15867-1995射频电缆组件第4部分：半硬同轴电缆组件分规范9.7

检测项：插入损耗稳定性 检测样品：射频连接器 射频电缆组件 标准：GJB1215A-2005射频电缆组件总规范4.5.10

机构所在地：安徽省蚌埠市 更多相关信息>>

绍兴市上虞区产品质量监督检验所/绍兴市上虞区计量测试所

检测项：骚扰电压 检测样品：电气照明和类似设备 标准：电气照明和类似设备的无线电骚扰特性的限值和测量方法 GB 17743-2007

机构所在地：浙江省绍兴市 更多相关信息>>

深圳市沃特测试技术服务有限公司

检测项：无线电骚扰 检测样品：工业环境中的电气和电子产品 标准：GB 17743-2007电气照明和类似设备的无线电骚扰特性的限值和测量方法

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

中国质量认证中心华南实验室

检测项：插入损耗 检测样品：照明灯具 标准：电气照明和类似设备的无线电骚扰限值和测量方法 GB 17743-2007, CISPR 15:2013, EN 55015:2013, AS/NZS CISPR 15:2011, J55015:2008

机构所在地：广东省中山市 更多相关信息>>

广东生益科技股份有限公司实验室

检测项：插入损耗 检测样品：覆铜箔层压板 标准：IPC-TM-650《试验方法手册》2.5.5.12印制线路板信号损耗总量的测试方法（07/12 A版）

机构所在地：广东省东莞市 更多相关信息>>

中国航空无线电电子研究所电磁兼容技术实验室

检测项：屏蔽效能 检测样品：机柜、机箱、壳体、材料、方舱、屏蔽室、屏蔽暗室 标准：(62) EN 50147-1:1996《暗室屏蔽衰减测量》 (63) GB/T 12190-2006《电磁屏蔽室屏蔽效能测量方法》 (64) EN 50147-1:1997《暗室屏蔽衰减测量》 (65) GJB 5240-2004《军用电子装备通用机箱、

检测项：场地衰减 检测样品：机柜、机箱、壳体、材料、方舱、屏蔽室、屏蔽暗室 标准：(72) CISPR 16-1-4:2012《无线电干扰和抗扰度测量仪器和方法规范—Part 1-4：无线电干扰和抗扰度测量仪器—辅助设备 —辐射干扰》

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：功能 检测样品：模拟开关 标准：半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T 14028-1992 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000；

机构所在地：湖北省孝感市 更多相关信息>>

富士康（昆山）电脑接插件有限公司实验室

检测项：衰减 检测样品：电子及电气零组件 标准：电气连接器，插座，线缆产品或互联系统的衰减测试程序 ECA EIA-364-101-2000(R2007)

检测项：衰减 检测样品：电子及电气零组件 标准：电气连接器及插座的电感量测程序 (10 nH–100 nH) EIA-364-69A-2002(R2009)

检测项：衰减 检测样品：电子及电气零组件 标准：汽车射频连接器系统性能规范 SAE/USCAR-17(2004) section4.4.2

机构所在地：江苏省昆山市 更多相关信息>>

湖南省电子产品检测分析所/中国赛宝（湖南）实验室/湖南省软件评测中心

检测项：近端串音衰减 检测样品：光缆※ 标准：大楼通信综合布线系统第2部分：电缆、光缆技术要求 YD/T 926.2-2009 光纤试验方法规范第40部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序—衰减GB/T15972.40-2008

检测项：近端串音衰减 功率和 检测样品：光缆※ 标准：大楼通信综合布线系统第2部分：电缆、光缆技术要求 YD/T 926.2-2009 光纤试验方法规范第40部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序—衰减GB/T15972.40-2008

检测项：等电平远端串音衰减 检测样品：光缆※ 标准：大楼通信综合布线系统第2部分：电缆、光缆技术要求 YD/T 926.2-2009 光纤试验方法规范第40部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序—衰减GB/T15972.40-2008

机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>