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检测项:导通态漏电流 IDS(on ) 检测样品:模拟集成电路 标准:GB/T 14030-1992 《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》
检测项:馈通误差EF 检测样品:晶体三极管 标准:GB/T4587-1994 《半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管》
机构所在地:北京市
检测项:中心频率误差 检测样品:功率放大器 标准:GJB3258-1998通信干扰功率放大器通用规范
检测项:静态分辨力带宽 检测样品:功率放大器 标准:GJB3258-1998通信干扰功率放大器通用规范
检测项:噪声边带 检测样品:功率放大器 标准:GJB3258-1998通信干扰功率放大器通用规范
机构所在地:河南省郑州市
检测项:通态峰值电压VTM 检测样品:闸流晶体管 标准:GB/T 15291-1994 半导体器件 第6部分:晶闸管
检测项:通态峰值电压VTM 检测样品:闸流晶体管 标准:GB/T 15291-1994 半导体器件 第6部分:晶闸管
机构所在地:河北省石家庄市