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检测项:峰值发射波长、光谱带宽、光谱功率分布 检测样品:发光二极管 标准:半导体发光二极管测试方法 SJ11394-2009
检测项:主波长和刺激纯度 检测样品:发光二极管芯片 标准:LED 测量 CIE 127:2007
机构所在地:北京市
检测项:干扰信号中心频率与带宽 检测样品:无线电设备 标准:GJB2079-1994《无线电系统间干扰的测量方法》
检测项:开环电压增益AVD 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》
机构所在地:湖北省武汉市
检测项:增益 检测样品:移动通信系统基站天线 标准:1.《移动通信系统基站天线技术条件》 YD/T 1059-2004 2.《天线标准测试程序》 IEEE Std 149TM-1979(R2008)
机构所在地:广东省广州市