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检测项:反向击穿电压 检测样品:光电耦合器 标准:半导体光电耦合器测试方法 SJ 2215.1~2215.14-1982
检测项:反向击穿电压 检测样品:光电耦合器 标准:半导体光电耦合器测试方法 SJ 2215.1~2215.14-1982
机构所在地:四川省成都市
检测项:PD反向击穿电压 检测样品:光纤连接器 标准:PIN-FET光接收组件测试方法 YD/T 702-1993
检测项:PD反向击穿电压 检测样品:光纤连接器 标准:PIN-FET光接收组件测试方法 YD/T 702-1993
机构所在地:广东省深圳市