上海机动车检测中心

检测项：传导充电用插头、插座、车辆耦合器和车辆插孔通用要求 检测样品：电动车辆 标准：电动汽车传导充电用连接装置 第1部分：通用要求GB/T 20234.1-2011

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上海精密计量测试研究所

检测项：正向电压VF 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件

检测项：工作电压VZ 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件

检测项：微分电阻rZ 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件

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北京东方计量测试研究所

检测项：衰减量 检测样品：定向耦合器 标准：GJB 2650-1996 微波元器件性能测试方法

检测项：噪声系数 检测样品：耦合器、功分器、失配器、负载、滤波器、隔离器 标准：GJB2650-1996 微波元器件性能测试方法

检测项：电压驻波比 检测样品：耦合器、功分器、失配器、负载、滤波器、隔离器 标准：GJB2650-1996 微波元器件性能测试方法

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

许昌开普检测技术有限公司开普实验室

检测项：高温 检测样品：电动汽车充电接口 标准：GB/T 20234-2006 电动汽车传导充电用插头、插座、车辆耦合器和车辆插孔通用要求

检测项：湿热 检测样品：电动汽车充电接口 标准：GB/T 20234-2006 电动汽车传导充电用插头、插座、车辆耦合器和车辆插孔通用要求

检测项：外观和结构检查 检测样品：电动汽车充电接口 标准：GB/T 20234-2006 电动汽车传导充电用插头、插座、车辆耦合器和车辆插孔通用要求

机构所在地：河南省许昌市 更多相关信息>>

中国工程物理研究院计量测试中心

检测项：上升时间 检测样品：耦合器/ 功分器 标准：GJB 2650-1996 微波元器件性能测试方法

检测项：时间因数 及误差 检测样品：耦合器/ 功分器 标准：GJB 2650-1996 微波元器件性能测试方法

检测项：频带宽度 检测样品：耦合器/ 功分器 标准：GJB 2650-1996 微波元器件性能测试方法

机构所在地：四川省绵阳市 更多相关信息>>

中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：逻辑低电压水平 检测样品：光耦合器 标准：（2）半导体器件光电子器件分规范 GB 12565-1990

检测项：反向电流 检测样品：光耦合器 标准：（1）半导体分立器件和集成电路 第5－3部分：光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003

检测项：电流传输比 检测样品：光耦合器 标准：（2）半导体器件光电子器件分规范 GB 12565-1990

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：零点误差 检测样品：光电耦合器 标准：SJ 20961-2006 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理

检测项：失调误差 检测样品：光电耦合器 标准：SJ 20961-2006 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理

检测项：零点误差 检测样品：光电耦合器 标准：SJ/T 10818-1996 半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

湖南航天管理局计量检测中心

检测项：正向电压VF 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件

检测项：工作电压VZ 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件

检测项：微分电阻rZ 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件

机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>

电信科学技术第一研究所泰峰通信实验室

检测项：插入损耗 检测样品：波导和 同轴器件 标准：无线通信室内信号分布系统无源器件认证技术规范 第2部分：耦合器 TLC 002-2011

检测项：带内波动 检测样品：波导和 同轴器件 标准：无线通信室内信号分布系统无源器件认证技术规范 第2部分：耦合器 TLC 002-2011

检测项：隔离度 检测样品：波导和 同轴器件 标准：无线通信室内信号分布系统无源器件认证技术规范 第2部分：耦合器 TLC 002-2011

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

检测项：输出短路电流 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分 SJ 2215-8

检测项：输出高电平的电源电流 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分 SJ 2215-8

检测项：输出低电平的电源电流 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分 SJ 2215-8

机构所在地：湖北省宜昌市 更多相关信息>>