半导体集成电路CMOS电路中输出高阻态电流IOZ的检测

检测项：输出高阻态电流IOZ 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路第Ⅳ篇 GB/T17574-1998 第2节第7条

检测机构：国家电子电器产品检测中心 更多相关信息>>

数字集成电路中输入高电平电压VIH的检测

检测项：输入高电平电压VIH 检测样品：数字集成电路 标准：《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》 SJ/T10741-2000

检测机构：国家机械电子产品环境与可靠性质量监督检验中心 更多相关信息>>

西安东风仪表厂可靠性试验检测中心

检测项：温度循环 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

检测项：老炼试验 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

检测项：粒子碰撞噪声检测试验 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

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武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：输入失调电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输入偏置电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：开环电压增益 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

贵州航天计量测试技术研究所

检测项：输出高电平电源电流ICCH 检测样品：CMOS电路 标准：《半导体集成电路CMOS 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10741-2000

检测项：输出低电平电源电流ICCL 检测样品：CMOS电路 标准：《半导体集成电路CMOS 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10741-2000

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：CMOS电路 标准：《半导体集成电路CMOS 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10741-2000

机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>

上海精密计量测试研究所

检测项：电源电流ICC 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

检测项：输出高电平电源电流ICCH 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

检测项：输出低电平电源电流ICCL 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：静态参数 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：动态参数 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：功能 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

机构所在地：湖北省孝感市 更多相关信息>>

西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：输出高电平电压 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输出低电平电压 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输入电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

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北京青云航空仪表有限公司理化计量中心

检测项：输入低电平电压VIL 检测样品：半导体集成 电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

检测项：输入正向阈值电压VIT+ 检测样品：半导体集成 电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：半导体集成 电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

检测项：输出高电平电压 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

检测项：输出低电平电压 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

检测项：输入电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

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