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架空绝缘电缆检测项目——1kV架空绝缘电缆检测项目与检测标准 1kV架空绝缘电缆检验项目 绝缘平均厚度、绝缘最薄处厚度 外径 电缆拉断力 导体电阻 电压试验 绝缘老化前抗张强度 绝缘老化前断裂伸长率 绝缘老化后抗张强度 绝缘老化后抗张强度变化率...查看详情>>
架空绝缘电缆检测项目——1kV架空绝缘电缆检测项目与检测标准
1kV架空绝缘电缆检验项目
收起百科↑ 最近更新:2018年11月28日
检测项:全部参数 检测样品:医用诊断X射线机 标准:医用电气设备 第1-1部分:安全通用要求并列标准:医用电气系统安全要求GB9706.15-2008
检测项:全部参数 检测样品:正电子发射与X射线计算机断层扫描装置 标准:医用电气设备 第1-1部分:安全通用要求并列标准:医用电气系统安全要求GB9706.15-2008
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:磁粉检测 检测样品:钢结构 标准:焊缝无损检测-射线检测- 第1部分:X射线和γ射线胶片照相技术 ISO 17636-1:2013
检测项:磁粉检测 检测样品:金属材料 及构件 标准:无损检验.金属材料用X和γ射线照相检验 ISO 5579-1998
检测项:超声检测 检测样品:钢结构 标准:钢结构焊接规范 AWS D1.1/D1.1M:2010
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:铁 检测样品:红土镍矿 标准:红土镍矿中多成分的测定 第1部分:X射线荧光光谱法SN/T 2763.1-2011
检测项:铁 检测样品:红土镍矿 标准:红土镍矿中多成分的测定 第1部分:X射线荧光光谱法 SN/T 2763.1-2011
检测项:铜 检测样品:红土镍矿 标准:红土镍矿中多成分的测定 第1部分:X射线荧光光谱法 SN/T 2763.1-2011
机构所在地:广西壮族自治区防城港市 更多相关信息>>
检测项:XRD定性分析 检测样品:金属材料 标准:转靶多晶体X射线 衍射方法通则 JY/T 009-1996
检测项:粒度分析 检测样品:粉末 标准:粒度分析 图像分析法 第1部分:静态图像分析法 GB/T 21649.1-2008
检测项:维氏硬度试验 检测样品:金属材料 标准:金属材料 维氏硬度 试验 第1部分:试验 方法 GB/T 4340.1-2009
机构所在地:天津市 更多相关信息>>
检测项:十六烷值指数 检测样品: 标准:ISO 8754:2003石油产品-硫含量测定-能量色散X荧光光谱法
检测项:微量残炭 检测样品:石油和石化产品 标准:ISO 8754:2003石油产品-硫含量测定-能量色散X荧光光谱法
机构所在地: 更多相关信息>>
检测项:鼠疫F1抗原 检测样品:疾病控制类样品 标准:鼠疫诊断标准X WS 279-2008 附录D.E.F
检测项:X-CT质量控制检测(高对比分辨力) 检测样品:医用诊断X线机质控检测 标准:X射线计算机断层摄影放射防护要求 GBZ 165-2012
检测项:X-CT质量控制检测(高对比分辨力) 检测样品:医用诊断X线机质控检测 标准:X射线计算机断层摄影装置质量保证检测规范 GB/T 17589-2011
机构所在地:浙江省杭州市 更多相关信息>>
检测项:X射线检查 检测样品:印制线路板 标准:GJB4027A-2006《 军用电子元器件破坏物理分析方法》
检测项:X射线CT检测 检测样品:印制线路板 标准:GJB128A-1997 《半导体分立器件试验方法》
检测项:元素分析 检测样品:机械零部件 标准:GB/T 17359-1998《电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析方法通则》
检测项:部分参数 检测样品: 标准:铝合金铸件 GB/T 9438-1999
检测项:贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法 检测样品:贵金属饰品 标准:首饰 贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法 GB/T 18043-2008
检测项:贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法 检测样品:电机类 标准:首饰 贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法 GB/T 18043-2013
机构所在地:山东省烟台市 更多相关信息>>
检测项:立、卧位透视防护区空气比释动能率 检测样品:电离辐射 防护 标准:医用X射线诊断放射防护要求GBZ 130-2013(附录B.1)
检测项:X射线剂量率 检测样品:电离辐射 防护 标准:X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准 GBZ 115-2002
检测项:X射线剂量率 检测样品:影像质量控制检测 标准:便携式X射线检查系统放射卫生防护标准 GBZ 177-2006
机构所在地:广东省汕头市 更多相关信息>>
检测项:X射线照相 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法2001.1
检测项:X射线照相 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法2001.2
检测项:X射线照相 检测样品:电子元器件 标准:电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ga和导则:稳态加速度 GB/T 2423.15-2008
机构所在地:江苏省无锡市 更多相关信息>>