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检测项:体内少数载流子寿命 检测样品:硅晶体 标准:硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 GB/T1553-2009
检测机构:国家电子电器产品检测中心 更多相关信息>>
检测项:体内少数载流子寿命 检测样品:工业硅 标准:硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法GB/T 1553-2009
检测项:体内少数载流子寿命 检测样品:工业硅 标准:硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法GB/T 1553-2009
机构所在地:河南省洛阳市
检测项:三极管载流子贮存时间ts 检测样品:场效应管 标准:GB/T4586-1994 《半导体器件分立器件 第8部分:场效应晶体管》
机构所在地:北京市