北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：输出高电平电压Voh 检测样品：半导体集成电路（稳压器） 标准：1.GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范

检测项：输出低电平电压Vol 检测样品：半导体集成电路（稳压器） 标准：1.GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范

检测项：输出高电平VO H 检测样品：半导体集成电路（数字集成电路） 标准：1.SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第IV篇 3.GB/T 16464-1996半导体器件 集成电路 第

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

成都凯天电子股份有限公司实验中心

检测项：输出高电平 电压 检测样品：二极管 标准：半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T4023-1997 半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

检测项：输出低电平 电压 检测样品：二极管 标准：半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T4023-1997 半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

检测项：输出高电平 电流 检测样品：二极管 标准：半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T4023-1997 半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输出高电平电压 检测样品：数字集成电路 标准：GJB597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路

检测项：输出低电平电压 检测样品：数字集成电路 标准：GJB597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路

检测项：输入高电平电流 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：GJB597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路

机构所在地：江苏省连云港市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：输出高电平电压 检测样品：时基 电路 标准：半导体集成电路 时基电路 测试方法的基本原理GB/T14030-1992 第2.1、2.2、2.3、2.4、2.6、2.7、2.8条

检测项：输出低电平电压 检测样品：时基 电路 标准：半导体集成电路 时基电路 测试方法的基本原理GB/T14030-1992 第2.1、2.2、2.3、2.4、2.6、2.7、2.8条

检测项：高电平输出电流 检测样品：时基 电路 标准：半导体集成电路 时基电路 测试方法的基本原理GB/T14030-1992 第2.1、2.2、2.3、2.4、2.6、2.7、2.8条

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十三研究所检验中心

检测项：*等电平远端串扰 检测样品：光纤 标准：光纤试验方法规范第20部分：尺寸参数的试验方法和试验程序——光纤几何参数GB/T15972.20-2008 光纤第1-20部分：试验方法和试验程序—光纤几何参数IEC60793-1-20:2001

检测项：*功率和等电平远端串扰 检测样品：光纤 标准：光纤试验方法规范第20部分：尺寸参数的试验方法和试验程序——光纤几何参数GB/T15972.20-2008 光纤第1-20部分：试验方法和试验程序—光纤几何参数IEC60793-1-20:2001

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

常州电子产品质量监测所有限公司

检测项：电源接口 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备的安全 GB 4943-2001

检测项：标记和说明 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备的安全 GB 4943-2001

检测项：电气间隙、爬电距离和绝缘穿透距离 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备的安全 GB 4943-2001

机构所在地：江苏省常州市 更多相关信息>>

辽宁信鼎检测认证有限公司

检测项：最大允许输出电平 检测样品：CDMA数字蜂窝移动台 标准：《800MHz CDMA1X数字蜂窝移动通信网设备测试方信网设备测试方法：移动台 第一部分 基本无线指标、功能和性能》 YDC 023-2006 《800MHz CDMA1X数字蜂窝移动通信网设备技术要求：移动台》 YDC 015-2006 《cdma20

检测项：参考灵敏电平 检测样品：WCDMA数字蜂窝基地台 标准：《2GHz WCDMA数字蜂窝移动通信网无线接入网络设备测试方法（第三阶段）》 YD/T 1553-2009 《2GHz WCDMA数字蜂窝移动通信网无线接入网络设备技术要求（第三阶段）》 YD/T 1552-2009

检测项：最大输入电平 检测样品：WCDMA数字蜂窝基地台 标准：《2GHz WCDMA数字蜂窝移动通信网无线接入网络设备测试方法（第三阶段）》 YD/T 1553-2009 《2GHz WCDMA数字蜂窝移动通信网无线接入网络设备技术要求（第三阶段）》 YD/T 1552-2009

机构所在地：辽宁省沈阳市 更多相关信息>>

福建省无线电检测中心

检测项：参考灵敏电平 检测样品：TD-SCDMA数字蜂窝移动台 标准：关于发布2GHz频段TD-SCDMA数字蜂窝通信网设备射频技术要求（试行）的通知 信无函[2007]22号 2GHz TD-SCDMA数字蜂窝移动通信网 终端设备测试方法 第一部分：基本功能、业务和性能测试

检测项：最大输入电平 检测样品：TD-SCDMA数字蜂窝移动台 标准：关于发布2GHz频段TD-SCDMA数字蜂窝通信网设备射频技术要求（试行）的通知 信无函[2007]22号 2GHz TD-SCDMA数字蜂窝移动通信网 终端设备测试方法 第一部分：基本功能、业务和性能测试

检测项：参考灵敏电平 检测样品：WCDMA数字蜂窝移动台 标准：2GHz WCDMA 数字蜂窝移动通信网终端设备技术要求（第三阶段） YD/T 1547-2009 2GHz WCDMA 数字蜂窝移动通信网终端设备检测方法（第三阶段）第1部分：基本功能、业务和性能 YD/T 1548

机构所在地：福建省福州市 更多相关信息>>

深圳市沃特测试技术服务有限公司

检测项：26爬电距离、电气间隙和贯通绝缘距离 检测样品：欧洲2.5A两极插头 标准：EN 50075：1990 家用和类似用途Ⅱ类设备连接用带软线的2.5A、250V不可拆线双极扁平插头规范

检测项：3.3(1)接收机辐射杂散 检测样品： 标准：

检测项：2.10 电气间隙，爬电距离和绝缘穿透距离 检测样品：信息技术设备 标准：IEC60950-1:2005 信息技术设备-安全-第1部分：一般要求 EN60950-1:2006 信息技术设备-安全-第1部分：一般要求 UL60950-1：2007 信息技术设备-安全-第1部分：一般要求 GB 4943.1-2011 信息技术设备.

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

深圳中认通测检验技术有限公司

检测项：接收辐射杂散 检测样品：射频接收设备 标准：卫星地球站和系统(SES)。只收移动地球站(ROMESs)操作1.5 GHz数据通信。无线电频率(RF)规范。 ETSI ETS 300487:1996+A1 (1997-11)

检测项：接收杂散 检测样品：（含有意发射体的） 无线电设备 标准：无线设备FCC PART 15C:2013

检测项：频率稳定性 检测样品：无线音频设备 标准：实验性无线电接收装置、辅助广播、特殊广播和其它节目发送服务 FCC Part 74: 2013

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>