电子显微镜（EM）的重要性不言而喻，但是想要适得其用却并不容易。本文从样品的制备、载网的选择，到仪器的操作与使用，再到图像和数据的分析进行介绍。

2023/10/08 更新 分类：科研开发 分享

透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, 简称TEM），是一种把经加速和聚集的电子束透射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度等相关，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件（如荧光屏，胶片以及感光耦合组件）上显示出来的显微镜。

2020/09/25 更新 分类：实验管理 分享

程智电子测试能力及测试范围。

2015/10/03 更新 分类：实验管理 分享

近日，青岛理工大学、西北工业大学以及加州大学伯克利分校等开展联合研究，基于点缺陷模型（PDM）理论，采用FIB-SEM双束系统和高分辨TEM对激光增材制造镍基高温合金表面超钝化膜进行观察分析，探究了超钝化膜的形成过程，阐明了“二次钝化”诱导超钝化膜的形成本质（因此，二次钝化膜即为超钝化膜）；同时基于金属微观组织特征及点缺陷模型理论，揭示了超钝化膜的失效

2022/06/07 更新 分类：科研开发 分享