AFM全称Atomic Force Microscope，即原子力显微镜，它是继扫描隧道显微镜（Scanning Tunneling Microscope）之后发明的一种具有原子级高分辨的新型仪器，可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测，或者直接进行纳米操纵。它的的原理较为简单，它是用微小探针“摸索”样品表面来获得信息

2019/09/16 更新 分类：科研开发 分享

AFM全称Atomic Force Microscope，即原子力显微镜，它是继扫描隧道显微镜（Scanning Tunneling Microscope）之后发明的一种具有原子级高分辨的新型仪器，可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测，或者直接进行纳米操纵。AFM制样时，对样品导电与否没有要求，因此测量范围比较广泛。

2019/09/16 更新 分类：科研开发 分享

本文讲解当获得AFM图像后，如何正确地进行图像分析和数据处理。

2021/04/13 更新 分类：检测案例 分享

纺织用麻纤维最常见的有亚麻、苎麻、大麻，近年来，罗布麻、黄麻的纺织产品也日益增多。这些麻均属于韧皮纤维，所以微观形态与化学性能都较为相似，因此在使用传统显微镜辨别其具体种类存在一定的难度。

2018/06/07 更新 分类：生产品管 分享

根据针尖与试样表面相互作用力的变化，AFM主要有3种操作模式：接触模式(contact mode),非接触模式(non-contact mode)和敲击模式(tapping mode)。

2018/06/19 更新 分类：科研开发 分享

电子显微镜和缺陷分析是材料科学的基石，因为它们提供了关于微观结构的详细描述以及各种材料和材料体系的性能

2018/10/09 更新 分类：科研开发 分享

扫描电镜主要由七大系统组成，即电子光学系统、信号探测处理和显示系统、图像记录系统、样品室、真空系统、冷却循环水系统、电源供给系统。

2019/09/11 更新 分类：科研开发 分享

扫描电子显微镜是光子晶体研究中不可缺少的分析仪器，主要用于：原材料的筛选（颗粒尺寸范围，颗粒尺寸统计，快速筛样）和组装过程分析

2019/09/16 更新 分类：科研开发 分享

位错对材料性能非常重要。本文提出一种特制的扫描电子显微镜装置，对双层石墨烯中的位错成像，并同时在纳米尺度原位操纵位错，可以直接揭示线张力、位错相互作用、节点形成等位错的基本特性。

2021/02/10 更新 分类：科研开发 分享

在实际高分辨电子显微镜像的观察中，除物镜的衬度传递函数外，入射电子的能量变化、色差以及试样上入射电子的会聚角等都会引起分辨率下降。

2021/04/09 更新 分类：实验管理 分享