环境应力筛选是指对产品施加规定的环境应力，来发现和剔除制造过程中的不良零件、元器件和工艺缺陷等早期故障的一种工序或方法。

2024/07/18 更新 分类：科研开发 分享

本文介绍了高低温环境试验可能引发的产品故障、高低温试验测试项目与检测标准。

2024/09/29 更新 分类：科研开发 分享

环境应力筛选是指对产品施加规定的环境应力，来发现和剔除制造过程中的不良零件、元器件和工艺缺陷等早期故障的一种工序或方法。

2024/10/11 更新 分类：科研开发 分享

在半导体世界中，了解芯片内部结构是至关重要的，它不仅关系到芯片的性能，也是工程师们在故障分析、制造工艺优化和新材料研究方面的重要工具。

2024/11/11 更新 分类：科研开发 分享

小信号MOS在进行可靠性测试时失效，经测试为GS漏电，对故障样品进行失效分析。

2024/11/16 更新 分类：检测案例 分享

芯片短路失效模式在芯片失效分析中是最常见的，那么针对这种故障模式应该怎么开展失效分析呢？

2024/12/22 更新 分类：检测案例 分享

要求可靠性目标值MTBF≥1000h，可以按照如下的方法进行.

2025/02/12 更新 分类：科研开发 分享

本文针对退针、歪针的失效，总结了以下产生原因并针对不同失效讨论了对应改善对策。

2025/03/11 更新 分类：科研开发 分享

失效分析中，曾遇到过NC管脚导致的芯片失效，经过静电复现，复现相同的故障现象，因此推断为ESD导致芯片失效。具体介绍一下这个案例.

2025/03/13 更新 分类：科研开发 分享

为了降低管道发生故障的可能性，管道泄漏检测技术与安全评估的研究至关重要。

2025/03/18 更新 分类：科研开发 分享