| 恒温继电器(0703) |
内部气体成份分析 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.4 |
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| 恒温继电器(0703) |
内部目检 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.7 |
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| 电感器和变压器(0801) |
外部目检 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.2 |
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| 电感器和变压器(0801) |
密封 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.3 |
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| 电感器和变压器(0801) |
X射线检查 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.3 |
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| 电感器和变压器(0801) |
制样镜检 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.4 |
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| 典型的射频线圈(0802) |
外部目检 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.2 |
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| 典型的射频线圈(0802) |
引出端强度 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.3 |
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| 典型的射频线圈(0802) |
制样镜检 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.4 |
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| 片式印刷电感器（0803） |
外部目检 |
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.2 |
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