| 集成电路(D/AC) |
失调误差温度系数 |
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006 5.1.2 |
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| 集成电路(D/AC) |
增益误差 |
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006 5.1.3 |
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| 集成电路(D/AC) |
增益误差温度系数 |
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006 5.1.4 |
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| 集成电路(D/AC) |
线性误差 |
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006 5.1.5 |
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| 集成电路(D/AC) |
线性误差温度系数 |
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006 5.1.6 |
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| 集成电路(D/AC) |
微分线性误差 |
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006 5.1.7 |
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| 集成电路(D/AC) |
微分线性误差温度系数 |
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006 5.1.8 |
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| 集成电路(D/AC) |
功耗 |
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006 5.1.9 |
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| 集成电路(D/AC) |
信噪比 |
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006 5.1.10 |
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| 集成电路 |
外部目检 |
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法2009 |
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