| 集成电路(D/AC) |
电源电压灵敏度 |
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006 5.1.16 |
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| 集成电路(A/DC) |
零点误差 |
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006 5.2.1 |
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| 集成电路(A/DC) |
零点误差温度系数 |
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006 5.2.2 |
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| 集成电路(A/DC) |
增益误差 |
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006 5.2.3 |
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| 集成电路(A/DC) |
增益误差温度系数 |
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006 5.2.4 |
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| 集成电路(A/DC) |
线性误差 |
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006 5.2.5 |
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| 集成电路(A/DC) |
线性误差温度系数 |
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006 5.2.6 |
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| 集成电路(A/DC) |
微分线性误差 |
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006 5.2.7 |
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| 集成电路 |
芯片粘结的超声检测 |
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法2030 |
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| 集成电路 |
倒装片拉脱试验 |
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法2031 |
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