| 集成电路(A/DC) |
数字输入高电平电流 |
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006 5.2.14 |
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| 集成电路(A/DC) |
最高工作频率 |
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006 5.2.15 |
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| 集成电路(A/DC) |
最低工作频率 |
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006 5.2.15 |
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| 集成电路(A/DC) |
电源电压灵敏度 |
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006 5.2.16 |
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| 集成电路(A/DC) |
失码 |
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006 5.2.17 |
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| 半导体集成电路 |
内部目检 |
合格制造厂认证用半导体集成电路通用规范 GJB7400-2011 4.4鉴定检验 |
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| 半导体集成电路 |
温度循环 |
合格制造厂认证用半导体集成电路通用规范 GJB7400-2011 4.4鉴定检验 |
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| 集成电路(D/AC) |
信噪失真比 |
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006 5.1.11 |
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| 集成电路(D/AC) |
总谐波失真 |
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006 5.1.12 |
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| 集成电路(D/AC) |
有效位 |
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006 5.1.13 |
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