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电子电气产品失效分析中X射线照像检测

  • 样品名称:电子电气产品失效分析

  • 检测项目:X射线照像

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:微电子器件试验方法和程序 方法 2012.1:X射线照相 GJB 548B-2005

  • 所属行业分类:电子电气

  • 标签: X射线照像 电子电气产品失效分析

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