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电子元器件中高低温循环冲击试验检测

  • 样品名称:电子元器件

  • 检测项目:高低温循环冲击试验

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:GJB128A-1997《半导体分立器件试验方法》方法1031高温寿命

  • 所属行业分类:电子电气 > 环境试验 >

  • 标签: 高低温循环冲击试验 电子元器件

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