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集成电路中输出低电平转三态时间检测

  • 样品名称:集成电路

  • 检测项目:输出低电平转三态时间

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

  • 所属行业分类:电子电气 > 电子元件检测 >

  • 标签: 输出低电平转三态时间 集成电路

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