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光耦中击穿电压检测

  • 样品名称:光耦

  • 检测项目:击穿电压

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件测试方法GB/T15651.3-2003

  • 所属行业分类:电子电气 > 电子元件检测 >

  • 标签: 击穿电压 光耦

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