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数字集成电路中内部观测特征检测

  • 样品名称:数字集成电路

  • 检测项目:内部观测特征

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

  • 所属行业分类:

  • 标签: 内部观测特征 数字集成电路

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