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半导体器件中1037 间歇工作寿命(抽样方案)检测

  • 样品名称:半导体器件

  • 检测项目:1037 间歇工作寿命(抽样方案)

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:GJB128A-97 《半导体分立器件试验方法》

  • 所属行业分类:电子电气 > 环境试验 >

  • 标签: 1037 间歇工作寿命(抽样方案) 半导体器件

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