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微电子器件中键合强度(破坏性键合拉力试验)检测

  • 样品名称:微电子器件

  • 检测项目:键合强度(破坏性键合拉力试验)

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 微电子器件试验方法和程序

  • 所属行业分类:电子电气 > 电子元件检测 >

  • 标签: 键合强度(破坏性键合拉力试验) 微电子器件

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