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晶体硅中外延层厚度检测

  • 样品名称:晶体硅

  • 检测项目:外延层厚度

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:《 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法》 GB/T 14847-2010

  • 所属行业分类:石油化工品

  • 标签: 外延层厚度 晶体硅

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