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晶体硅中III-V族杂质含量检测

  • 样品名称:晶体硅

  • 检测项目:III-V族杂质含量

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:《半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测定非接触涡流法》 GB/T 6616-2009

  • 所属行业分类:石油化工品

  • 标签: III-V族杂质含量 晶体硅

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