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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:低温 检测样品:电工电子产品 标准:环境试验方法-电气·电子-低温(耐寒性)试验方法 JIS C 60068-2-1:2010
检测项:高温 检测样品:电工电子产品 标准:电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温 GB/T 2423.1-2008
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:低温 检测样品:电工电子 产品 标准:电工电子产品环境试验 试验A:低温 GB/T 2423.1-2008
检测项:低温、振动综合试验 检测样品:电工电子 产品 标准:电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/AFc:散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦)综合试验 GB/T 2423.35-2005
检测项:温度、振动综合试验 检测样品:电工电子 产品 标准:电工电子产品基本环境试验规程 温度(低温、高温)和振动(正弦)综合试验导则 GB/T 2424.22-1986
机构所在地:辽宁省沈阳市 更多相关信息>>
检测项:低温柔性 检测样品:防水材料 标准:《建筑防水卷材试验方法第14部分:沥青防水卷材 低温柔性》GB/T328.14-2007
检测项:脆性温度 检测样品:弹性体改性沥青防水卷材 标准:《硫化橡胶低温脆性的测定》GB/T1682-2008
检测项:部分参数 检测样品:聚氨酯防水涂料 标准:《聚氨酯防水涂料》 GB/T19250-2003
机构所在地:天津市 更多相关信息>>
检测项:全部项目 检测样品:家具 标准:儿童高椅.第1部分:安全要求 EN 14988-1:2006 儿童高椅第2部分:试验方法 EN 14988-2:2006 儿童高椅.第1部分:安全要求 ISO 9221-1:1992 儿童高椅第2部分:试验方法 ISO 9221-2:1992
检测项:全部项目 检测样品:家具 标准:儿童高椅.第1部分:安全要求 EN 14988-1:2006; 儿童高椅第2部分:试验方法 EN 14988-2:2006; 儿童高椅.第1部分:安全要求 ISO 9221-1:1992; 儿童高椅第2部分:试验方法 ISO 9221-2:1992
检测项:织带强度试验 -低温状态 检测样品:汽车儿童安全座椅 标准:机动车儿童乘员用约束系统 GB 27887-2011
检测项:环境(部分项目) 检测样品: 标准:
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:部分参数 检测样品:软电缆(软线) 标准:额定电压450/750V及以下聚氯乙烯绝缘电缆 第5部分:软电缆(软线) GB/T 5023.5-2008
检测项:部分参数 检测样品:固定布线用电缆电线 标准:额定电压450/750V及以下聚氯乙烯绝缘电缆电线和软线第2部分:固定布线用电缆电线 JB/T 8734.2-1998
检测项:部分参数 检测样品:安装用电线 标准:额定电压450/750V及以下聚氯乙烯绝缘电缆电线和软线 第4部分:安装用电线 JB/T 8734.4-1998
机构所在地:广东省江门市 更多相关信息>>
检测项:高加速温度和湿度应力试验 检测样品:电子元器件 标准:高加速温度和湿度应力试验 JESD22-A110D:2010
检测项:低温试验 检测样品:电子电器产品 标准:电工电子产品环境试验 第二部分:试验方法 试验A:低温 GB/T2423.1-2008
检测项:高低温循环试验 检测样品: 标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1051
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:加热试验 (280℃) 检测样品:食用植物油 标准:粮油检验 植物油脂加热试验GB/T 5531-2008
检测项:冷冻试验 (0℃) 检测样品:食用植物油 标准:色拉油通用技术条件 GB/T 17756-1999 附录A
检测项:透明度(20℃) 检测样品:食用植物油 标准:植物油脂 透明度、气味、滋味鉴定法 GB/T 5525-2008
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:部分项目 检测样品:高碳铬不锈轴承钢 标准:高碳铬不锈轴承钢 GB/T 3086-2008
检测项:部分项目 检测样品:高碳铬轴承钢 标准:高碳铬轴承钢 GB/T 18254-2002
检测项:盐雾试验 检测样品:高碳铬轴承钢 标准:人造气氛腐蚀试验 盐雾试验GB/T10125-1997
检测项:高加速蒸煮试验 检测样品:电子器件 标准:高加速蒸煮试验 JESD22-A102D:2010
检测项:高加速寿命试验 检测样品:印刷电路板 标准:高加速寿命试验 JESD22-A110D:2010
检测项:高加速无偏置寿命试验 检测样品:印刷电路板 标准:高加速无偏置寿命试验 JESD22-A118A:2011