触发干扰声检测实验

超声治疗设备附件

简介

超声治疗设备附件

简介

超声治疗固定贴产品描述：通常由环形黏贴材料（压敏胶）、定位座和保护纸组成。非无菌产品。

超声治疗固定贴预期用途：用于将超声治疗头和耦合剂固定到无创皮肤上。

超声治疗固定贴品名举例：超声治疗固定贴

超声治疗固定贴管理类别：I

隔离透声膜产品描述：隔离透声膜通常由固定套和透声薄膜组成。非无菌产品。

隔离透声膜预期用途：与医用超声设备配套，安装于超声探头的透声窗上，用于防止患者间交叉感染。。

隔离透声膜品名举例：隔离透声膜

隔离透声膜管理类别：I

超声治疗设备附件相关标准：
1、YY 9706.262-2021 医用电气设备第2-62部分：高强度超声治疗（HITU）设备的基本安全和基本性能专用要求
2、GB 9706.205-2020 医用电气设备第2-5部分：超声理疗设备的基本安全和基本性能专用要求
3、YY/T 0750-2018 超声理疗设备 0.5MHz~5MHz频率范围内声场要求和测量方法
4、YY/T 1750-2020 超声软组织切割止血手术设备

收起百科↑ 最近更新：2023年03月27日

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国家电光源质量监督检验中心（北京）

检测项：安全/全部参数检测样品：霓虹灯变压器标准：QB/T 1115-1991高压钠灯用电子触发器

机构所在地：北京市更多相关信息>>

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南阳市爆炸与火灾安全防范重点实验室

检测项：电路中有触发器的镇流器试验检测样品：“n”型电气设备标准：GB3836.8-2003爆炸性气体用电气设备无火花型电气设备“n”

检测项：电路中有触发器的镇流器试验检测样品：“n”型电气设备标准：IEC60079-15:2010爆炸性气体环境用电气设备第15部分：“n”型电气设备

检测项：触发器检测样品：防爆灯具、灯具标准：GB7000.1-2007灯具第1部分：一般要求与试验

机构所在地：河南省南阳市更多相关信息>>

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中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：触发电流检测样品：时基电路标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992

检测项：触发电压检测样品：时基电路标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992

检测项：全部项目检测样品：发射机及控制设备标准：《压制性雷达干扰通用规范》GJB2088A-2002

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中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：触发电压VTR 检测样品：模拟集成电路标准：GB/T 14030-1992 《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》

检测项：触发电流ITR 检测样品：晶体三极管标准：GB/T14029-1992 《半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理》

机构所在地：北京市更多相关信息>>

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中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：控制极触发电流的最大值IGT 检测样品：闸流晶体管标准：GB/T 15291-1994 半导体器件第6部分：晶闸管

检测项：控制极触发电压的最大值VGT 检测样品：闸流晶体管标准：GB/T 15291-1994 半导体器件第6部分：晶闸管

检测项：控制极触发电流的最大值IGT 检测样品：半导体分立器件外壳标准：1、GJB 923A-2004 半导体分立器件外壳通用规范 2、SJ 20129-1992 金属镀覆层厚度测量方法 3、GB/T 16526-1996 封装引线间电容和引线负载电容测试方法

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上海精密计量测试研究所

检测项：复位触发电流IR 检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：触发电压VTR 检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：触发电流ITR 检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

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中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：触发电压检测样品：混合集成电路标准：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 GB/T8976-1996

检测项：触发电流检测样品：混合集成电路标准：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 GB/T8976-1996

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中国工程物理研究院计量测试中心

检测项：同步（触发）特性检测样品：平面光学元件标准：GB/T 2831-2009 《光学元件的面形偏差》

检测项：X射线检查检测样品：声表面波器件标准：GJB 4027A-2006 《军用电子元器件破坏性物理分析方法》

检测项：粒子碰撞噪声检测(PIND) 检测样品：声表面波器件标准：GJB 4027A-2006 《军用电子元器件破坏性物理分析方法》

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西安电力电子技术研究所电力电子实验室

检测项：门极触发电流/电压检测样品：晶闸管标准：半导体器件第6部分晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994

检测项：门极不触发电压/电流检测样品：晶闸管标准：半导体器件第6部分晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994

机构所在地：陕西省西安市更多相关信息>>

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西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：触发电流检测样品：模拟开关标准：半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T 14028-1992

检测项：触发电压检测样品：模拟开关标准：半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T 14028-1992

检测项：门极触发电流检测样品：晶闸管标准：半导体器件第6部分晶闸管 GB/T 15291-1994

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国家电光源质量监督检验中心（北京）

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中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

上海精密计量测试研究所

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

中国工程物理研究院计量测试中心

西安电力电子技术研究所电力电子实验室

西南技术物理研究所检测校准中心实验室

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