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气管插管用喉镜产品描述:通常由手柄、窥视片、内部电源和照明用光源组成,可带有视频显示功能。是一种气管插管时使用的辅助器械。 气管插管用喉镜预期用途:供临床挑起患者会厌部暴露声门,指引医护人员准确进行气道插管供麻醉或急救用,也可用于口腔内诊察、治疗。 气管插管用喉镜品名举例:麻醉喉镜、麻醉咽喉镜、视频麻醉喉镜、气管插管用喉镜、一次性使用麻醉喉镜、一次性使用麻醉咽喉镜、一...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年03月21日
检测项:输出高电平电压和输出低电平电压 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998
检测项:输出高电平电压和输出低电平电压 检测样品:RF器件 标准:半导体器件 集成电路 第2部分: 数字集成电路 GB/T 17574-1998
检测项:输出高电平电压和输出低电平电压 检测样品:FPGA现场可编程器件 标准:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输出低电平(输出部分)VOL 检测样品:脉宽调制器 标准:《半导体集成电路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脉宽调制器详细规范》SJ 20294-1993
检测项:输出高电平(输出部分)VOH 检测样品:固定电阻器 标准:《电子设备用固定电阻器第一部分:总规范》GB/T 5729-2003
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:存储器 标准:《半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理》SJ/T 10739-1996
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:ADC数字输出高电平、数字输出低电平电压 检测样品:集成电路A/D和D/A转换器 标准:集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006
检测项:输出高电平电压 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992
检测项:输出低电平电压 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:输出频谱 检测样品:固定无线视频传输系统终端 标准:工信部无[2008]332号关于固定无线视频传输系统使用频率的通知
检测项:输出频谱 检测样品:专用移动无线视频传输系统便携台 标准:工信部无[2008]333号关于专业移动无线视频传输系统使用频率的通知
检测项:最大输出功率 检测样品:SCDMA无线接入直放站 标准:工信部无[2008]332号关于固定无线视频传输系统使用频率的通知
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:输出阻抗 检测样品:视频放大器 标准:电视视频通道测试方法 GB/T3659-1983
检测项:额定输出电平和允差 检测样品:音频放大器/处理器 标准:广播声频通道技术指标测量方法 GB/T15943-1995
检测项:音频输出电平 检测样品:地面数字电视接收器 标准:地面数字电视接收器测量方法 GB/T26684-2011 地面数字电视接收器通用规范 GB/T26683-2011
检测项:线性输出电平 检测样品:单面纸质 印制 标准:单面纸质印制的安全要求 SJ 3275-90
检测项:抗电强度 检测样品:音频、视频及类似电子设备 安全要求 标准:音频、视频及类似电子设备 安全要求 GB 8898-2001
检测项:耐热冲击 检测样品:音频、视频及类似电子设备 安全要求 标准:音频、视频及类似电子设备 安全要求 GB 8898-2001
机构所在地:福建省福州市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压 检测样品:运算放大器 标准:半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
检测项:输出低电平电压 检测样品:运算放大器 标准:半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
检测项:输出高电平电压 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:输出电平 检测样品:车载稳压电源 标准:GJB 3836-1999 车载稳压电源通用规范
检测项:输出电平平坦度 检测样品:车载稳压电源 标准:GJB 3836-1999 车载稳压电源通用规范
检测项:反向辐射电平 检测样品:数字式搜索 接收机 标准:GJB 4268-2001 通信对抗数字式搜索接收机通用规范
机构所在地:浙江省嘉兴市 更多相关信息>>
检测项:输出低电平电流IOL 检测样品:微电子器件 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:半导体 集成电路TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:半导体 集成电路TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
机构所在地:河南省郑州市 更多相关信息>>
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:DC/DC电源模块 标准:混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:DC/DC电源模块 标准:混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项:输入阈值电平电压VT(I) 检测样品:DC/DC电源模块 标准:混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997