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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:输出高电平电源电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输出低电平电源电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:电源电流 检测样品:运算放大器 标准:半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:电源输入试验 检测样品:机电 产品 标准:飞机供电特性参数测试方法 第5.7供电瞬边特性的兼容性 GJB5189-2003
检测项:电源输入试验 检测样品:机电 产品 标准:飞机供电特性及对用电设备的要求 GJB181-1986
检测项:电源输入试验 检测样品:机电 产品 标准:机载设备环境条件和试验方法 第16部分-电源输入试验 RTCA/DO-160E、F
机构所在地:天津市 更多相关信息>>
检测项:电源电压变化的影响 检测样品:原子荧光光度计 标准:《原子荧光光度计》 DZ/T 0183-1997
检测项:电源电压变化的影响 检测样品:工业pH计 标准:《工业pH计》 JB/T 6203-1992
检测项:电源电压变化对电子单元的影响 检测样品:熔点仪 标准:《熔点测定仪》 JB/T 6177-1992
检测项:电源电流ICC 检测样品:半导体集成 电路 (TTL) 标准:半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:电源电流IDD 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出高电平时电源电流ICCH 检测样品:半导体集成 电路 (TTL) 标准:半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:功率因数 检测样品:固态照明(SSL) 标准:谐波发射限值相关照明设备的电源质量要求 ANSI C82.77- 2002
检测项:电源外壳和制造商指定位置的最大温度测量 检测样品:固态照明(SSL) 标准:灯具 UL 1598-2010 第14章
检测项:电源外壳和制造商指定位置的最大温度测量 检测样品:固态照明(SSL) 标准:可移式灯具 ANSI/UL 153-2011 第二部分 性能要求 正常温升测试
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:电源电压抑制比 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000
检测项:D/A电源电压灵敏度 检测样品:RF器件 标准:集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006
检测项:D/A电源电压灵敏度 检测样品:集成电路A/D和D/A转换器 标准:集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006
检测项:电源电压 抑制比 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输入钳位电压 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输入失调电流 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:云南省昆明市 更多相关信息>>
检测项:限制电源测试 检测样品:家用和商 用电池 标准:家用和商用电池的 安全 UL 2054:2011 第2版
检测项:高倍率充电下电池 的保护测试 检测样品:家用和商 用电池 标准:家用和商用电池的 安全 UL 2054:2011 第2版
检测项:电池组的元器件温 度测试 检测样品:家用和商 用电池 标准:家用和商用电池的 安全 UL 2054:2011 第2版
检测项:电源电流 检测样品:ECL电路 标准:SJ/T10737-1996半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理
检测项:电源电流 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:电源电流 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:电源电压抑制比 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:电源电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输入失调电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>