特殊光学效应/特殊性质检测实验

光学相干断层扫描仪

简介

光学相干断层扫描仪产品描述：通常由光学相干系统、数据获取处理和/或分析系统组成。利用光学相干成像原理，获取组织断层面的信息。光学相干断层扫描仪预期用途：用于获取组织断层面的信息。光学相干断层扫描仪品名举例：眼科光学相干断层扫描仪光学相干断层扫描仪管理类别：Ⅱ 光学相干断层扫描仪相关指导原则： 1、眼科光学相干断层扫描仪注册...查看详情>>

光学相干断层扫描仪

简介

光学相干断层扫描仪产品描述：通常由光学相干系统、数据获取处理和/或分析系统组成。利用光学相干成像原理，获取组织断层面的信息。

光学相干断层扫描仪预期用途：
用于获取组织断层面的信息。
光学相干断层扫描仪品名举例：眼科光学相干断层扫描仪

光学相干断层扫描仪管理类别：Ⅱ

光学相干断层扫描仪相关指导原则：
1、眼科光学相干断层扫描仪注册技术审查指导原则

光学相干断层扫描仪相关标准：
1、YY/T 0849-2011 眼科高频超声诊断仪
2、YY/T 0107-2015 眼科A型超声测量仪
3、YY/T 1484-2016 眼科仪器眼轴长测量仪

收起百科↑ 最近更新：2023年04月23日

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广东出入境检验检疫局检验检疫技术中心

检测项：化学性质/全部参数检测样品：玩具与儿童用品标准：日本玩具协会玩具安全标准第三部分化学性质 ST 2002（第11版）

检测项：化学性质/全部参数检测样品：玩具与婴童用品标准：日本玩具协会玩具安全标准第三部分化学性质 ST 2012 Part 3

检测项：部分项目检测样品：自行车标准：自行车安全要求 CPSC 1512-2008

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海南省药品检验所

检测项：热效应检测样品：药品标准：中国药典2010年版一部

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北京无线电计量测试研究所

检测项：负载效应检测样品：防静电鞋、导电鞋标准：防静电鞋、导电鞋技术要求 GB4385-1995

检测项：源电压效应检测样品：交流稳压电源标准：抗干扰型交流稳压电源通用技术条件 SJ/T10541-1994 抗干扰型交流稳压电源通用测试方法 SJ/T10542-1994

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中国测试技术研究院

检测项：全项目检测样品：磁强计标准：霍尔效应磁强计 JB/T9296-1999

检测项：全项目检测样品：磁强计标准：霍尔效应磁强计 JB/T9296-1999

检测项：全项目检测样品：光学计标准：JB/T 10575-2006 光学计

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北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：栅源阈值电压VGS(th) 检测样品：场效应晶体管标准：GB/T4586-1994半导体器件第8部分：场效应晶体管

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宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

检测项：栅-源击穿电压检测样品：场效应晶体管标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管

检测项：漏-源通态电阻检测样品：场效应晶体管标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管

检测项：零栅压漏极电流检测样品：场效应晶体管标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管

机构所在地：湖北省宜昌市更多相关信息>>

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中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：发射极-基极截止电流检测样品：场效应管标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管

检测项：集电极-发射极截止电流检测样品：场效应管标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管

检测项：集电极-发射极饱和电压检测样品：场效应管标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管

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中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：发射极—基极击穿电压检测样品：场效应管标准：《半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管》GB/T4586-1994

检测项：集电极—发射极维持电压检测样品：场效应管标准：《半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管》GB/T4586-1994

检测项：共发射极正向电流传输比检测样品：场效应管标准：《半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管》GB/T4586-1994

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中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：栅-源阈值电压检测样品：场效应晶体管标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管GB/T4586-1994第 Ⅳ 章2、3、6、 10、15条

检测项：栅-源阈值电压检测样品：场效应晶体管标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管GB/T4586-1994第 Ⅳ 章2、3、6、 10、15条

检测项：漏极电流检测样品：场效应晶体管标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管GB/T4586-1994第 Ⅳ 章2、3、6、 10、15条

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贵州航天计量测试技术研究所

检测项：集电极-发射极击穿电压V(BR)CEO 检测样品：场效应晶体管标准：《半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管GB/T 4586-1994 《半导体分立器件试验方法GJB 128A-1997

检测项：栅源极截止（漏泄）电流IGSS 检测样品：场效应晶体管标准：《半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管GB/T 4586-1994 《半导体分立器件试验方法GJB 128A-1997

检测项：老炼和寿命试验（功率场效应晶体管和绝缘栅双极晶体管检测样品：半导体分立器件标准：《半导体分立器件试验方法》GJB128A-1997

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