漏率测试检测实验

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述：通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。

血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途：与适配试剂配合使用，用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。

血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例：血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血脂监测仪、血糖血酮仪、血酮体测试仪、葡萄糖/乳酸分析仪、尿酸/血糖分析仪、血脂/血糖分析仪、血糖/胆固醇两用检测仪、血糖/胆固醇/甘油三酯/乳酸分析仪、血脂分析仪

血糖及血糖相关参数分析仪器管理类别：Ⅱ

血糖及血糖相关参数分析仪器相关指导原则：
1、血糖仪注册技术审查指导原则
2、自测用血糖监测系统注册申报资料指导原则

血糖及血糖相关参数分析仪器相关标准：
1、YY/T 1549-2017 生化分析仪用校准物下载2、YY/T 1662-2019 生化分析仪用质控物

血糖及血糖相关参数分析仪器相关检测项目：
1 . 外观《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
2 . 血糖仪和血糖试条测量重复性《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
3 . 血糖仪和血糖试条系统准确度《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
4 . 红细胞压积《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
5 . 血糖试条批间差《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
6 . 质控物质《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
7 . 血糖仪环境试验《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
8 . 血糖仪安全要求《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》

收起百科↑ 最近更新：2023年08月07日

搜索条件所在地区: 所属类别:

湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：漏源极截止电流IDSS 检测样品：场效应晶体管标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：静态漏-源通态电阻RDS 检测样品：场效应晶体管标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：漏源击穿电压 V（BR）DSS 检测样品：场效应晶体管标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

机构所在地：湖北省孝感市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：截止态漏极漏电流检测样品：集成电路A/D和D/A转换器标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ 20961-2006

检测项：电流调整率检测样品：DC/DC电源变换器标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法　 SJ 20646-1997

检测项：电压调整率和电压稳定系数检测样品：半导体集成电路电压调整器标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理　 GB/T 4377-1996

机构所在地：上海市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
湖南航天管理局计量检测中心

检测项：漏极截止电流IDSS 检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：漏极截止电流IDSS 检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：电压调整率SV 检测样品：DC/DC模块标准：SJ20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法

机构所在地：湖南省长沙市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
泰安市纺织纤维检验所

检测项：脱毛率检测样品：梳棉胎标准：毛巾产品脱毛率测试方法 GB/T 22798-2009

检测项：含杂率检测样品：棉花标准：原棉含杂率试验方法 GB/T 6499-2012

检测项：部分项目检测样品：服装标准：服装理化性能的技术要求 GB/T 21295-2007

机构所在地：山东省泰安市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
中化化工科学技术研究总院分析测试中心

检测项：悬浮率检测样品：农药标准：农药悬浮率测定方法 GB/T 14825-2006

检测项：细度检测样品：涂料标准：涂料细度测定法 GB 1724-1979

检测项：划痕检测样品：标准：色漆和清漆划痕试验 GB/T 9279-2007

机构所在地：北京市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
杭州市质量技术监督检测院

检测项：脱毛率检测样品：毛巾标准：《毛巾产品脱毛率测试方法》 GB/T 22798-2009

检测项：脱毛率检测样品：毛巾标准：《毛巾产品脱毛率测试方法》 GB/T 22798-2009

检测项：全部参数检测样品：发光二极管（LED）标准：《LED的测量》CIE127:2007 《半导体发光二极管测试方法》SJ/T11394-2009 《LED光源光通维持率的测量》IES-LM-80-08

机构所在地：浙江省杭州市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
滨州市纺织纤维检验所

检测项：脱毛率检测样品：纺织品标准：毛巾产品脱毛率测试方法 GB/T 22798-2009

检测项：脱毛率检测样品：纺织品标准：毛巾产品脱毛率测试方法 GB/T 22798-2009

检测项：含油脂率检测样品：纺织品标准：毛纺织品含油脂率的测定 FZ /T20002-1991

机构所在地：山东省滨州市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
上海华东电信研究院

检测项：液体溢漏试验检测样品：电信终端设备(安全) 标准：YD/T 965-1998《电信终端设备的安全要求和试验方法》

检测项：元器件的要求检测样品：电信终端设备(安全) 标准：YD/T 965-1998《电信终端设备的安全要求和试验方法》

检测项：说明和标记的要求检测样品：电信终端设备(安全) 标准：YD/T 965-1998《电信终端设备的安全要求和试验方法》

机构所在地：上海市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
中国空空导弹研究院元器件检测中心

检测项：截止态漏级漏电流ID（off）检测样品：模拟/混合集成电路标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路第3部分模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

检测项：电压调整率SV 检测样品：DC/DC转换器标准：SJ 20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法

检测项：电流调整率SI 检测样品：DC/DC转换器标准：SJ 20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法

机构所在地：河南省洛阳市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
北京市劳动保护科学研究所劳动保护用品检验实验室

检测项：泄漏率** 检测样品：呼吸防护用品标准：《呼吸防护用品试验方法第1部分：泄漏率和总泄漏率的测试》 EN 13274-1:2001

检测项：透过率** 检测样品：眼面防护标准：《个人眼部防护光学测试方法》 EN 167：2001 6

检测项：透过率均匀性** 检测样品：眼面防护标准：《个人眼部防护光学测试方法》 EN 167：2001 7

机构所在地：北京市更多相关信息>>

我要咨询联系我们

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

湖南航天管理局计量检测中心

泰安市纺织纤维检验所

中化化工科学技术研究总院分析测试中心

杭州市质量技术监督检测院

滨州市纺织纤维检验所

上海华东电信研究院

中国空空导弹研究院元器件检测中心

北京市劳动保护科学研究所劳动保护用品检验实验室

热点资讯MORE>

最新资讯MORE>

客户服务