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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:环境试验(低温存储、低温工作、高温存储、高温工作、湿热、振动) 检测样品:配电箱 标准:YD/T 585-2010 通信用配电设备
检测项:环境试验(低温存储、低温工作、高温存储、高温工作、湿热、振动) 检测样品:光纤插座盒 标准:YD/T 2281-2011 《光纤插座盒》
检测项:恒定湿热试验 检测样品:通信电源 标准:YDT 1438-2006 数字移动台应用层软件功能要求和测试方法
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:存储柜跌落测试 检测样品:存储柜 标准:存储柜-测试 ANSI/BIFMA X5.9-2012
检测项:外挡测试 检测样品:存储柜 标准:存储柜-测试 ANSI/BIFMA X5.9-2012
检测项:锁测试 检测样品:存储柜 标准:存储柜-测试 ANSI/BIFMA X5.9-2012
机构所在地: 更多相关信息>>
检测项:湿热存储测试 检测样品:不间断电源UPS(安全) 标准:GB7260.1:2008 EN/IEC62040-1:2008不间断电源设备 第1-1部分: 操作人员触及区使用的UPS的一般规定和安全要求 ; UL1778-4th/CSA C22.2 NO.107.3-05 不间断电源安全;IEC 6095
检测项:恒定湿热试验 检测样品:电工电子产品(环境) 标准:GB/T2423.3-2006 IEC60068-2-78:2012 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热
检测项:交变湿热试验 检测样品:电工电子产品(环境) 标准:GB/T2423.4-2008 IEC60068-2-30:2005 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验Db及导则:交变湿热
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:能耗 检测样品:数据中心存储设备 标准:能源之星数据中心存储设备 1.0版 能源之星数据中心存储设品测试方法,Rev. Aug 2013
检测项:存储拨号呼叫 检测样品:蓝牙设备 标准:蓝牙特别工作组(SIG) 免提配置文件测试规范 测试套件结构(TSS)和测试目的(TP) HFP.TS.1.6.4(2013)
检测项:恒定湿热 检测样品:电工电子产品 标准:电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热试验 GB/T 2423.3-2006 IEC 60068-2-78:2012
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:性能测试 检测样品:数字存储 示波器 标准:数字存储示波器通用技术条件和测试方法GB/T 15289-1994
检测项:性能特性 检测样品:数字存储 示波器 标准:数字存储示波器通用技术条件和测试方法GB/T 15289-1994
检测项:环境试验 检测样品:扫频信号发生器 标准:扫频信号发生器通用技术条件GB/T 13183-1991 扫频信号发生器测试方法 GB/T 13
机构所在地:安徽省蚌埠市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:存储器 标准:《半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理》SJ/T 10739-1996
检测项:相对湿度 检测样品:热处理炉 标准:《电工电子产品环境试验设备检验方法 湿热试验设备》GB/T 5170.5-2008
检测项:电压调整率SV 检测样品:DC-DC电源变换器 标准:《遥测系统及分系统测试方法 DC-DC电源变换器性能参数和测试方法》GJB 383.10-1988
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:采样-保持失调电压VOS 检测样品:半导体集成电路MOS随机存储器 标准:SJ/T10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:半导体集成电路MOS随机存储器 标准:SJ/T10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:半导体集成电路MOS随机存储器 标准:SJ/T10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:静态参数 检测样品:MOS随机存储器 标准:半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T 10739-1996
检测项:动态参数 检测样品:MOS随机存储器 标准:半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T 10739-1996
检测项:静态参数 检测样品:双极性随机存储器 标准:半导体集成电路双极型随机存储器器测试方法的基本原理 SJ/T 10740-1996
机构所在地:湖北省孝感市 更多相关信息>>
检测项:湿热试验 检测样品:调频无线电话机 标准:只测: 4.1.2.1高温存储
检测项:高温试验 检测样品:数字通信设备 标准:只测: 4.1.1.1低温存储
检测项:湿热试验 检测样品:调频无线电话机 标准:只测: 10交变湿热试验
检测项:高温存储寿命试验 检测样品:电子器件 标准:高温存储寿命试验 JESD22-A103D:2010
检测项:稳态湿热偏置寿命试验 检测样品:电子器件 标准:稳态湿热偏置寿命试验 JESD22-A101C:2009
检测项:交变湿热试验 检测样品:电子器件 标准:温度湿度偏置循环寿命测试 JESD22-A100C:2007