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口腔数字印模仪产品描述:通常由探头、主机和软件组成。扫描光源为弱激光等。 口腔数字印模仪预期用途:获取患者口内三维数字影像,用于口腔修复、正畸、种植、外科等治疗。 口腔数字印模仪品名举例:口腔数字印模仪、口腔光学扫描仪 口腔数字印模仪管理类别:Ⅱ 口腔数字观察仪产品描述:通常由摄像手柄和显示器等组成。利用摄像功能,观察口腔内各部位状态的设备...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年05月08日
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:DC/DC电源模块 标准:混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:DC/DC电源模块 标准:混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项:输出峰峰电压VOPP 检测样品:A/D、D/A转换器 标准:半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理 SJ/T10818-1996
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:全部参数 检测样品:载波机 标准:DL/T 790.31-2001采用配电线载波的配电自动化 第3部分:配电线载波信号传输要求 第1篇:频带和输出电平
检测项:全部参数 检测样品:数字式保护测控装置 标准:DL/T 1075-2007数字式保护测控装置通用技术条件
检测项:全部参数 检测样品:数字式电动机综合保护装置 标准:JB/T 10613-2006数字式电动机综合保护装置通用技术条件
机构所在地:河南省许昌市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》
检测项:输出高电平阈值电压VOHT 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:系统输出电平 检测样品:建筑智能化系统 标准:智能建筑工程质量验收规范 GB 50339-2003
检测项:等电平远端串音 检测样品:基于以太网技术的局域网系统 标准:基于以太网技术的局域网系统验收测评规范 GB/T 21671-2008
检测项:等电平远端串音功率和 检测样品:基于以太网技术的局域网系统 标准:基于以太网技术的局域网系统验收测评规范 GB/T 21671-2008
机构所在地:山东省济南市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输出低电平电压 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:输出低电平电压 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G 方法3006.1
检测项:输出高电平电流 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3009.1
检测项:输出高电平电压 检测样品:电子元器件 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.7条
机构所在地:江苏省无锡市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出高电平电压 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出高电平阈值电压 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出低电平电压 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输出低电平电压 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品:DC/DC模块 标准:SJ20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:湖南省长沙市 更多相关信息>>