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X射线探测器产品描述:X射线探测器(包括平板探测器或光电耦合器(CCD)探测器等)采用特定的光电转换介质将穿过人体的X射线信号转化为数字信号。影像系统一般包括图像传输,处理和显示系统。 X射线探测器预期用途:装配于或配合诊断X射线机,用于将X射线信号转化为数字信号。 X射线探测器品名举例:X射线平板探测器、X射线CCD探测器、X射线动态平板探测器 X射线...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年03月09日
检测项:数据提取 检测样品: 标准:《数字化设备证据数据发现提取固定方法》 GA/T 756-2008
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:静电放电 检测样品:数字用户线设备 标准:数字用户线 (xDSL)设备电磁兼容性要求和测量方法 YD/T 1244-2002
检测项:共模电快速瞬变 检测样品:数字用户线设备 标准:数字用户线 (xDSL)设备电磁兼容性要求和测量方法 YD/T 1244-2002
检测项:浪涌(冲击) 检测样品:数字用户线设备 标准:数字用户线 (xDSL)设备电磁兼容性要求和测量方法 YD/T 1244-2002
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:全部参数 (电性能测试) 检测样品:旋转变压器-数字转换器 标准:《电子转换模块旋转变压器-数字转换器详细规范》 CB1231.2-93
检测项:全部参数 (电性能测试) 检测样品:线性旋转变压器-数字转换器 标准:《电子转换模块线性旋转变压器-数字转换器详细规范》 CB1231.3-93
检测项:全部参数 (电性能测试) 检测样品:数字-自整角机转换器 标准:《电子转换模块数字-自整角机转换器详细规范》 CB1231.4-93
机构所在地:江苏省连云港市 更多相关信息>>
检测项:输出电压温度系数ST 检测样品:半导体集成电路 (数字集成电路) 标准:GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第Ⅳ篇
检测项:输出噪声电压SNO 检测样品:半导体集成电路 (数字集成电路) 标准:GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第Ⅳ篇
检测项:短路电流IOS 检测样品:半导体集成电路 (数字集成电路) 标准:GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第Ⅳ篇
机构所在地:河北省石家庄市 更多相关信息>>
检测项:部分项目 检测样品:数字式角度测量仪 标准:《数字式角度测量仪规范》 SJ/T 11276-2002
检测项:全部项目 检测样品:数字式分度头 标准:《光学分度头》GB/T3371-1995
检测项:全部项目 检测样品:全球定位系统(GPS)测量型接收机 标准:《全球定位系统(GPS)测量型接收机检定规程》CH8016-1995
机构所在地:黑龙江省哈尔滨市 更多相关信息>>
检测项:回程误差 检测样品:SF6气体密度继电器校验仪 标准:数字压力计检定规程 JJG875-2005 数字温度指示调节仪检定规程 JJG617-1996
检测项:设定点误差 检测样品:SF6气体密度继电器校验仪 标准:数字压力计检定规程 JJG875-2005 数字温度指示调节仪检定规程 JJG617-1996
检测项:切换差 检测样品:SF6气体密度继电器校验仪 标准:数字压力计检定规程 JJG875-2005 数字温度指示调节仪检定规程 JJG617-1996
机构所在地:福建省福州市 更多相关信息>>
检测项:零点误差 检测样品:光电耦合器 标准:SJ/T 10818-1996 半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理
检测项:失调误差 检测样品:光电耦合器 标准:SJ/T 10818-1996 半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理
检测项:输出高电平电压 检测样品:数字集成电路 标准:GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:基准电压 (VREF) 检测样品:半导体集成电路数字集成电路 标准:半导体器件 集成电路第2部分:数字集成电路 GB/T17574-1998
检测项:功能测试 检测样品:半导体集成电路数字集成电路 标准:半导体器件 集成电路第2部分:数字集成电路 GB/T17574-1998
检测项:输出高电平电压(VOH) 检测样品:半导体集成电路数字集成电路 标准:半导体器件 集成电路第2部分:数字集成电路 GB/T17574-1998
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:数字集成电路的功能检验方法 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998
检测项:启动过冲 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998
检测项:启动延迟 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998
检测项:空载有功功率 检测样品:数字式多功能办公设备 标准:数字式多功能办公设备节能产品认证技术要求 CSC/T 31-2006
检测项:低能耗方式下的能耗 检测样品:数字式多功能办公设备 标准:数字式多功能办公设备节能产品认证技术要求 CSC/T 31-2006