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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:碰撞 检测样品:电工电子 产品 标准:电工电子产品环境试验第二部分:试验方法 试验Eb和导则:碰撞 GB/T 2423.6-1995
检测项:碰撞试验 检测样品:电工电子 产品 标准:电工电子产品环境试验第二部分:试验方法 试验A:低温 GB/T 2423.1-2008
检测项:盐雾试验 检测样品:电工电子 产品 标准:电工电子产品基本环境试验规程 试验Ka: 盐雾试验方法 GB/T 2423.17-2008
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:碰撞与颠震(包括规定脉冲和稳态加速度) 检测样品:电工电子产品、 军用船用电气设备 标准:GB/T2423.6-1995 《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Eb和导则:碰撞》
检测项:碰撞与颠震(包括规定脉冲和稳态加速度) 检测样品:电工电子产品、 军用船用电气设备 标准:GJB150.18-1986《军用设备环境试验方法 冲击试验》 试验五、六、七
检测项:霉菌 检测样品:电工电子产品、 军用船用电气设备 标准:GJB360B-2009《电子及电气元件试验方法》方法207强碰撞冲击试验
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:碰撞 检测样品:计量器具及电工、电子产品 标准:GB/T 2423.6-1995 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Eb和导则: 碰撞
检测项:冲击动能 检测样品:弹簧锤 标准:GB/T 2423.55-2006 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Eh:锤击试验
检测项:沙尘 检测样品:计量器具及电工、电子产品 标准:GB 2423.37-2006 《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验L:沙尘试验》
机构所在地:江苏省无锡市 更多相关信息>>
检测项:碰撞(颠震) 检测样品:机电设备 标准:《电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验Eb和导则:碰撞》 GB/T2423.6-1995/ idt IEC 60068-2-29:1987
检测项:碰撞(颠震) 检测样品:机电设备 标准:《仪表及自动化设备环境的试验规范》 No.2.4
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:碰撞 检测样品:电工电子产品环境测试 标准:电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验Eb和导则:碰撞 GB/T 2423.6-2008 IEC 60068-2-29-2008
检测项:碰撞 检测样品:电池 标准:蜂窝电话用锂离子电池总规范 GB/T 18287-2000
检测项:机械碰撞 检测样品:电工电子产品及其外壳 标准:外壳防护等级(IP代码) GB 4208-2008 IEC 60529:2001
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:碰撞 检测样品:电工电子产品与军用设备 标准:GB/T2423.6-1995 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Eb和导则 :碰撞
检测项:碰撞 检测样品:电工电子产品与军用设备 标准:IEC 60068-2-27:2008电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ea和导则 :冲击
检测项:碰撞 检测样品:电工电子产品与军用设备 标准:ISO16750-3:2012 道路车辆 - 电气和电子装备的 环境条件和试验 第3部分:机械环境 4.2机械冲击
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:粒子碰撞噪声检测试验 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:粒子碰撞噪声检测试验 检测样品:半导体集成电路电压调整器 标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996
检测项:粒子碰撞噪声检测试验 检测样品:混合集成电路 标准:混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ20646-97
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:自由落锤试验 检测样品:防爆材料 标准:JB/T8313-1996 碰撞摩擦火花安全性能试验方法导则
检测项:旋转摩擦试验 检测样品:防爆材料 标准:JB/T8313-1996 碰撞摩擦火花安全性能试验方法导则
检测项:落下重物试验 检测样品:防爆材料 标准:JB/T8313-1996 碰撞摩擦火花安全性能试验方法导则
机构所在地:河南省南阳市 更多相关信息>>
检测项:粒子碰撞噪声检测试验(PIND) 检测样品:晶体管 标准:半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
检测项:粒子碰撞噪声检测 检测样品:电子元器件试验 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法2020.1 电子及电气元件试验方法 GJB 360A-1996 方法217 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法2052
检测项:高温贮存 检测样品:电子元器件试验 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1008.1稳定性烘焙;半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97方法1031高温寿命 电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法108高温寿命试验;
机构所在地:湖北省孝感市 更多相关信息>>
检测项:冲击碰撞试验 检测样品:液相色谱仪 标准:液相色谱仪试验方法 JB/T6857-1993
检测项:冲击碰撞试验 检测样品:电导率仪 标准:分析仪器环境试验方法 GB/T11606-2007
检测项:振动试验 检测样品:环境试验 标准:光学和光学仪器 环境试验方法 机械作用力 GB/T 12085.3-2010